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中國臺灣益和MICROTEST 6632 精密阻抗分析儀
6632 精密阻抗分析儀,提供 6 種頻率選項(10 Hz 至1/3/5/10/20/30 MHz),可以進行交流信號的LCR測試,測試頻率和測試級別可進行連續變化的階段測量。可在不同測試、模式條件下、進行高速地連續測試。提供輸出阻抗25?/100?可切換,ALC補償,多步測試;BIN 分類及比較器功能在自動元件生產時進行良品與不良品分類。內建直流偏置電壓±12V,並可選購外掛直流偏置電壓/電流 0到±40V/±100mA,精準量測壓電陶瓷材料之導納圓繪圖,提供量測電容之直流電壓特性;及選購等效電路分析功能支援7種不同的參數模型(三元件、四元件),可協助客戶模擬元件的等效參數值。可搭配 6210, 6220,或6240直流偏流源測試系統 。且支援RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device 等介面。
6632精密阻抗分(fen)析儀(yi)可搭配各式各樣(yang)的(de)測(ce)(ce)試(shi)治具與配件。例如(ru):介電(dian)常數(shu)測(ce)(ce)試(shi)治具 FX-0000C7,儀(yi)器(qi)內(nei)建公(gong)式直(zhi)接算(suan)出材料介電(dian)數(shu)值 εr'、εr"。評估 PCB 空板(ban)(ban)或陶(tao)瓷板(ban)(ban)等。使用(yong)液態介電(dian)治具 FX-000C20,用(yong)來評估電(dian)化學材料特(te)性分(fen)析。使用(yong)導磁(ci)係數(shu)測(ce)(ce)試(shi)治具 FX-0000C8,儀(yi)器(qi)內(nei)建公(gong)式直(zhi)接算(suan)各種環形磁(ci)芯或鐵(tie)氧體(ti)磁(ci)芯及電(dian)磁(ci)屏蔽塗層材料的(de)導磁(ci)系數(shu) μr'、μr"。其內(nei)建的(de)公(gong)式讓讓量測(ce)(ce)步驟變得(de)更為簡易及快速(su)。
量測精準度及(ji)多功能性為種不同類型的(de)工(gong)作(zuo)和應(ying)用(yong)程式高要(yao)求的(de)蕞佳選擇,使用(yong)者(zhe)包括半導體、元件廠商(shang)、研發單位、進(jin)料檢(jian)驗(yan)、實(shi)驗(yan)室、學生。
特色:
四顯參數 800*400 7 吋彩色螢幕,可以同(tong)時設(she)定即顯示四種不同(tong)的參數(shu)。 | 校正 量(liang)測待測物之前(qian),需要先(xian)做開路、短路、高頻(pin)負載(zai)校正、及定頻(pin)負載(zai)校正。 | |
DCR 量測電感 用(yong)於電(dian)(dian)感(gan)元件特(te)性(xing)的量(liang)測,量(liang)測直流的電(dian)(dian)阻特(te)性(xing)。一般用(yong)來評估電(dian)(dian)感(gan)的參(can)數值為 Ls/Lp/Q/SRF/DCR。電(dian)(dian)感(gan)匝(za)數與繞線材料會影響DCR 值。 | 多步測試 多步列表測(ce)試自動編成功能,多 15 組 ( 可存 50 個(ge)編程(cheng) )。
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輸出阻抗 25?/100? 和自動電平控制 (ALC) 輸出(chu)阻抗 25?/100? 可(ke)(ke)以切(qie)換。自動電(dian)平控制 (ALC) 為工程師更精確量(liang)測元(yuan)件。如積層陶瓷電(dian)容(MLCC),電(dian)容值>1uF,需打開ALC 量(liang)測, 因為電(dian)容值在(zai)量(liang)測時(shi)有可(ke)(ke)能(neng)會低於真實的(de)電(dian)容量(liang)。一般評(ping)估電(dian)容的(de)參數值有 Cs/Cp/D/Q/ESR/DC Bias Voltage。 | 介電治具/液態介電 使用(yong)介電(dian)(dian)(dian)常(chang)數(shu)(shu)測試治具 FX-0000C7,6630 內建公式直接算出材料(liao)介電(dian)(dian)(dian)數(shu)(shu)值(zhi) εr'、εr"。評估 PCB 空板或陶瓷板等。使用(yong)液態(tai)介電(dian)(dian)(dian)治具 FX-000C20,用(yong)來評估電(dian)(dian)(dian)化學材料(liao)特(te)性(xing)分析(xi)。
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導磁係數 使用(yong)導(dao)磁(ci)(ci)係數(shu)測試治具 FX-0000C8,6630 內建公式直接算各種(zhong)環形(xing)磁(ci)(ci)芯或鐵氧(yang)體磁(ci)(ci)芯及電磁(ci)(ci)屏蔽(bi)塗層(ceng)材料的導(dao)磁(ci)(ci)系數(shu) μr'、μr"。
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半導體晶圓或陶瓷積層電容評估直流偏壓電壓特性 實測 Y5V 型 MLCC 元件(jian)的直流偏壓特性 ( 尺(chi)寸為 1206 搭載治具(ju) FX-000C12) 在(zai)頻率(lv) 100Hz 下串聯電容值(zhi)為 9.70uF,利用(yong) 6632 阻抗分析儀施加 DC Bias 電壓 ±12V,其電容值(zhi)從 9.7uF 下降至 1.46uF。 | |
等效電路模型分析(選購) E模(mo)型(xing)適用於(wu)量測分析(xi)諧振器(qi),上圖呈現出兩個共振頻率(lv)特性。一般諧振器(qi)、壓電(dian)片、或傳感器(qi)等元(yuan)件(jian)在分析(xi)時,有別於(wu)其(qi)它元(yuan)件(jian)的部份(fen)在於(wu)可能(neng)有一個以上的共振頻率(lv)。例如(ru)為(wei)了使(shi)壓電(dian)材(cai)料(liao)能(neng)以大的振幅出力(li),就需要精準的得(de)知諧振頻率(lv)的範圍。如(ru)上圖所示,以此(ci)模(mo)型(xing)即可明確(que)的分析(xi)出兩個共振點間的頻率(lv)。 | 7 種不(bu)同的模型,結合不(bu)同類型的參(can)(can)數 ( 電(dian)阻(zu)、電(dian)感、電(dian)容(rong) ),目的是(shi)用三個或四個元素(su)對(dui)阻(zu)抗與頻率(lv)特性進行建模。模擬(ni)自(zi)己的等效電(dian)路參(can)(can)數的阻(zu)抗軌(gui)跡值,然後將其與實際測量軌(gui)跡進行比較和(he)參(can)(can)考自(zi)諧振(zhen)頻率(lv) (SRF)。 | |
PCB 板繞組電感線圈 汽車(che)電源模組(zu)中越來越多採用(yong)(yong)多層 PCB 板(ban)繞組(zu)而(er)成電感線(xian)圈的(de)(de)結(jie)構,因(yin) PCB 蝕刻製程中寄(ji)生於銅(tong)箔繞組(zu)上的(de)(de)寄(ji)生電容、阻值損(sun)耗,會降(jiang)低整(zheng)體的(de)(de)電感量造成共振頻(pin)率 SRF 偏(pian)移,這些 PCB 不良(liang)品(pin)可能導致(zhi)成品(pin)組(zu)裝測試出現 NG,可利(li)用(yong)(yong) 6632 測量 PCB 線(xian)圈板(ban)重(zhong)要(yao)參數 L/Q/DCR/Rs/SRF。
| RFID / NFC / 汽車無線天線評估阻抗特性 對(dui)於(wu)天線(xian)在實(shi)際運用上搭(da)載周邊的線(xian)路時,針對(dui)發射端(duan),天線(xian)一(yi)般連接(jie)在功(gong)率放(fang)大(da)器(qi) (PA),另一(yi)接(jie)收端(duan),天線會接(jie)上 LNA,對於天線重的的特性即(ji)是阻抗的匹配,達到大(da)的功(gong)率輸出。 | |
壓電元件/ 石英晶體分析頻率特性 精準量測(ce)壓電(dian)陶(tao)瓷材料之導納圓繪(hui)圖(tu)。分(fen)析壓電(dian)元件(jian)的關鍵(jian)參數如:Fs/Fp/Qm/Kp (機電(dian)耦合係數 )。 |
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中國臺灣益和MICROTEST 6632 精密阻抗分析儀
規(gui)格
測試頻率 | 6632-1/1S | 10Hz ~ 1MHz |
6632-3/3S | 10Hz ~ 3MHz | |
6632-5/5S | 10Hz ~ 5MHz | |
6632-10/10S | 10Hz ~ 10MHz | |
6632-20/20S | 10Hz ~ 20MHz | |
6632-30/30S | 10Hz ~ 30MHz | |
* S 為選購等效模型分析功能 | ||
小分辨率 | 100mHz, 6位元頻率輸入 | |
準確度 | 7 ppm±100mHz | |
基本測量準確度 | ± 0.08% (典型值± 0.05% ) | |
AC 測試信號位準
| 測試信號電壓範圍 | 10mV - 2Vrms |
電壓小分辨率 | 1mV | |
準確度 | ALC ON:6% * 設定電壓 ±2mV ALC OFF:10% * 設定電壓 ±2mV | |
測試信號電流範圍 | 200µA - 20mArms | |
電流小分辨率 | 10µA | |
準確度 | ALC ON:6% * 設定電流 ± 20µA ALC OFF:10% * 設定電流 ± 20µA | |
DC測試信號位準 | 1V (固定) | |
測量時間 | < 3mS | |
輸出阻抗 | 可切換25Ω、100Ω (標稱值) | |
測試參數 | |Z|(阻抗)、|Y|(導納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串並聯電阻)、G(電導)、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數)、Q(品質因數)、DCR(直流電阻) 、C(電容)、ESR(等效串聯電阻) 、ε (相對介電係數)、μr (相對導磁係數) | |
Bias | 可搭配 DC Bias 6210/6220/6240 | |
測量模式 | 電錶模式、多步測試(shi)、掃描圖形(xing)分(fen)析、*等效電路模型分(fen)析(S型號 選購(gou)) | |
等效電路 | 串聯、並聯 | |
校正 | 開路、短路、負載 | |
多步列表測試 | 50組 ,每組15個測試步驟 | |
等效電路模型分析 (選購) | 三元件 (4 種模型)、四元件(3 種模型) | |
多步列表測試 | 50組多步測試設定(每組15個測試步驟) | |
內建直流偏置電壓 | -12 to +12V, 0.3% ±1.5mV, 100Hz to 30MHz | |
BIN分類 | 9級 (大) | |
比較器 | ABS、ΔABS、Δ%、OFF | |
內建儲存 | 100組LCR Meter測試設定文件 、50組多步測試設定 | |
USB Host 儲存 | LCR Meter測(ce)試(shi)(shi)設(she)定文(wen)件、多步測(ce)試(shi)(shi)設(she)定文(wen)件、BMP圖像、掃圖畫面及資(zi)料 | |
介面 | RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device | |
選購 | 電腦連線軟體 | |
等效電路模型分析,三元件 (4種模型)、四元件 (3種模型) | ||
外掛直流偏置電壓/電流 ( 0 到 ±40V/±100mA) | ||
電源需求 | 電壓 90-264Vac | |
頻率 47-63Hz | ||
低功耗:大30W | ||
液晶螢幕 | 7吋TFT, 彩色顯示 (800*480) | |
操作環境 | 溫度:10-40℃、濕度:20-90%RH | |
外觀尺寸(W*H*D) | 336x147x340 mm | |
重量 | 3.95Kg |
參數量測範圍
|Z| | 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
R, X | ± 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
|Y| | 0.00000 μS to 999.999 kS |
G, B | ± 0.00000 μS to 999.999 kS |
θRAD | ± 0.00000 to 3.14159 |
θDEG | ± 0.000° to 180.000° |
Cs, Cp | ± 0.00000 pF to 9999.99 F |
Ls, Lp | ± 0.00 nH to 9999.99 kH |
D | 0.00000 to 9999.99 |
Q | 0.00 to 9999.99 |
Δ | ± 0.00% to 9999.99% |
Rdc | 0.00 mΩ to 99.9999 MΩ |
εr' εr'' | 0 to 100000 |
μr' μr'' | 0 to 100000 |
應用範圍
被動元件 | 電容器、電感器、電阻器、變壓器、陶瓷諧振器、石英晶體 |
半導體元件 | 變容二極體之 cv 特性分析、二極體 |
介電質材料 | 塑膠、陶瓷、印刷電路板的電容率和損耗正切評估 |
導磁材料 | |
其他元件 | 電路板上的元件阻抗評估 |