簡(jian)要(yao)描述:中國臺灣益(yi)和(he)MICROTEST 6632 精密阻抗(kang)分析儀提供 6 種(zhong)頻率選(xuan)項(xiang)(10 Hz 至1/3/5/10/20/30 MHz),可(ke)以進行(xing)交流信號的(de)LCR測(ce)試(shi),測(ce)試(shi)頻率和(he)測(ce)試(shi)級別(bie)可(ke)進行(xing)連(lian)續(xu)變化的(de)階段測(ce)量。可(ke)在(zai)不同測(ce)試(shi)、模式(shi)條件下、進行(xing)高速地連(lian)續(xu)測(ce)試(shi)。提供輸出阻抗(kang)25?/100?可(ke)切換,ALC補償,多步測(ce)試(shi);BIN 分類(lei)(lei)及比較(jiao)器功能在(zai)自動元件生產時進行(xing)良品(pin)與不良品(pin)分類(lei)(lei)。
更新時間:2023-07-19
產(chan)品型號: 阻抗儀6632
所屬分類:元件測試儀器
訪問量:4161
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中國臺灣益和MICROTEST 6632 精密阻抗分析儀介紹:
6632 精密阻抗分析儀,提供 6 種頻率選項(10 Hz 至1/3/5/10/20/30 MHz),可以進行交流信號的LCR測試,測試頻率和測試級別可進行連續變化的階段測量。可在不同測試、模式條件下、進行高速地連續測試。提供輸出阻抗25?/100?可切換,ALC補償,多步測試;BIN 分類及比較器功能在自動元件生產時進行良品與不良品分類。內建直流偏置電壓±12V,並可選購外掛直流偏置電壓/電流 0到±40V/±100mA,精準量測壓電陶瓷材料之導納圓繪圖,提供量測電容之直流電壓特性;及選購等效電路分析功能支援7種不同的參數模型(三元件、四元件),可協助客戶模擬元件的等效參數值。可搭配 6210, 6220,或6240直流偏流源測試系統 。且支援RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device 等介面。
6632精密阻抗(kang)分析(xi)儀(yi)可(ke)搭配各式(shi)各樣的測(ce)(ce)(ce)試(shi)治具(ju)與配件。例如:介電(dian)(dian)常數(shu)測(ce)(ce)(ce)試(shi)治具(ju) FX-0000C7,儀(yi)器內建(jian)公(gong)式(shi)直(zhi)接(jie)算出(chu)材料介電(dian)(dian)數(shu)值(zhi) εr'、εr"。評(ping)(ping)估(gu) PCB 空(kong)板(ban)或陶(tao)瓷(ci)板(ban)等。使用(yong)液態介電(dian)(dian)治具(ju) FX-000C20,用(yong)來(lai)評(ping)(ping)估(gu)電(dian)(dian)化學材料特(te)性分析(xi)。使用(yong)導磁(ci)係數(shu)測(ce)(ce)(ce)試(shi)治具(ju) FX-0000C8,儀(yi)器內建(jian)公(gong)式(shi)直(zhi)接(jie)算各種環形磁(ci)芯或鐵氧體磁(ci)芯及電(dian)(dian)磁(ci)屏蔽塗層材料的導磁(ci)系數(shu) μr'、μr"。其(qi)內建(jian)的公(gong)式(shi)讓(rang)讓(rang)量測(ce)(ce)(ce)步驟變得(de)更為簡易(yi)及快速。
量測精準度及多功能性(xing)為種(zhong)不(bu)同類型(xing)的工作和應用(yong)程(cheng)式高(gao)要求的蕞(zui)佳選(xuan)擇,使用(yong)者包括半(ban)導體、元件廠商、研發單(dan)位、進料檢驗(yan)、實驗(yan)室、學生。
中國臺灣益和MICROTEST 6632 精密阻抗分析儀特色:
四顯參數 800*400 7 吋彩色螢幕,可以同時設定即顯示四種不同的參數。 | 校正 量測待測物之前,需要先做開路、短路、高頻負載校正、及定頻負載校正。 | |
DCR 量測電感 用於(wu)電感(gan)元件特性的(de)量測(ce),量測(ce)直流(liu)的(de)電阻特性。一般用來評估電感(gan)的(de)參(can)數值為 Ls/Lp/Q/SRF/DCR。電感(gan)匝數與繞(rao)線(xian)材料會影響DCR 值。 | 多步測試 多步列表測試(shi)自動編成功(gong)能,多 15 組 ( 可存 50 個(ge)編程 )。
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輸出阻(zu)抗 25?/100? 和自動(dong)電(dian)平控制 (ALC) 輸出阻抗 25?/100? 可以(yi)切換。自(zi)動電(dian)(dian)平控(kong)制 (ALC) 為工(gong)程師更精確量(liang)(liang)測元件。如積層陶瓷電(dian)(dian)容(rong)(MLCC),電(dian)(dian)容(rong)值>1uF,需打開(kai)ALC 量(liang)(liang)測, 因為電(dian)(dian)容(rong)值在(zai)量(liang)(liang)測時有(you)可能會低(di)於真實的電(dian)(dian)容(rong)量(liang)(liang)。一般(ban)評估電(dian)(dian)容(rong)的參數值有(you) Cs/Cp/D/Q/ESR/DC Bias Voltage。 | 介電治具/液態介電 使用介電(dian)(dian)常(chang)數(shu)測試治具 FX-0000C7,6630 內建(jian)公(gong)式直接(jie)算(suan)出(chu)材料介電(dian)(dian)數(shu)值 εr'、εr"。評估 PCB 空(kong)板(ban)或陶瓷(ci)板(ban)等。使用液態介電(dian)(dian)治具 FX-000C20,用來評估電(dian)(dian)化學材料特性分析。
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導磁係數 使用導磁(ci)係數測(ce)試治具 FX-0000C8,6630 內建公式直(zhi)接(jie)算(suan)各種環(huan)形磁(ci)芯或鐵氧體磁(ci)芯及(ji)電磁(ci)屏蔽塗層材料的導磁(ci)系數 μr'、μr"。
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半導體晶圓或陶(tao)瓷(ci)積層電(dian)容評估直流偏(pian)壓電(dian)壓特性 實測 Y5V 型 MLCC 元件的(de)直流偏(pian)壓特性(xing) ( 尺寸為(wei) 1206 搭載治具 FX-000C12) 在頻率 100Hz 下(xia)串聯電容值為(wei) 9.70uF,利用(yong) 6632 阻抗分析儀(yi)施加 DC Bias 電壓 ±12V,其電容值從 9.7uF 下(xia)降(jiang)至 1.46uF。 | |
等效電路(lu)模型分析(選購(gou)) E模型(xing)適用於量測分析諧(xie)振器(qi),上圖(tu)呈(cheng)現出兩個共(gong)(gong)振頻率(lv)(lv)(lv)特性(xing)。一(yi)般諧(xie)振器(qi)、壓電(dian)片(pian)、或傳感器(qi)等(deng)元(yuan)件在分析時(shi),有(you)別於其它元(yuan)件的(de)部份在於可(ke)能(neng)有(you)一(yi)個以(yi)上的(de)共(gong)(gong)振頻率(lv)(lv)(lv)。例(li)如為了(le)使壓電(dian)材料能(neng)以(yi)大的(de)振幅出力,就需要精準的(de)得知諧(xie)振頻率(lv)(lv)(lv)的(de)範圍。如上圖(tu)所示,以(yi)此模型(xing)即可(ke)明確的(de)分析出兩個共(gong)(gong)振點(dian)間(jian)的(de)頻率(lv)(lv)(lv)。 | 7 種不同的模型,結合不同類型的參數 ( 電阻、電感、電容 ),目的是用三個或四個元素對阻抗與頻率特性進行建模。模擬自己的等效電路參數的阻抗軌跡值,然後將其與實際測量軌跡進行比較和參考自諧振頻率 (SRF)。 | |
PCB 板繞(rao)組電感線圈 汽車電(dian)源模組(zu)中(zhong)越來越多採用多層 PCB 板繞(rao)組(zu)而成電(dian)感線圈的(de)(de)結構,因 PCB 蝕刻製(zhi)程(cheng)中(zhong)寄生(sheng)於銅箔繞(rao)組(zu)上的(de)(de)寄生(sheng)電(dian)容(rong)、阻值損耗,會降低整體(ti)的(de)(de)電(dian)感量造成共(gong)振頻率 SRF 偏(pian)移,這些 PCB 不良品(pin)可(ke)能(neng)導(dao)致成品(pin)組(zu)裝測試出(chu)現 NG,可(ke)利用 6632 測量 PCB 線圈板重要參數 L/Q/DCR/Rs/SRF。
| RFID / NFC / 汽車無線天線評估阻抗特性 對於天線在實際運用上搭載周邊的線路時,針對發射端,天線一般連接在功率放大器 (PA),另一接收端,天線會接上 LNA,對於天線重的的特性即是阻抗的匹配,達到大的功率輸出。 | |
壓電元件/ 石英晶(jing)體分析頻率(lv)特性 精(jing)準(zhun)量測壓(ya)(ya)電(dian)陶瓷材(cai)料之導納圓繪圖。分析壓(ya)(ya)電(dian)元件(jian)的關(guan)鍵參數(shu)如(ru):Fs/Fp/Qm/Kp (機電(dian)耦(ou)合係數(shu) )。 |
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規格
測試頻率 | 6632-1/1S | 10Hz ~ 1MHz |
6632-3/3S | 10Hz ~ 3MHz | |
6632-5/5S | 10Hz ~ 5MHz | |
6632-10/10S | 10Hz ~ 10MHz | |
6632-20/20S | 10Hz ~ 20MHz | |
6632-30/30S | 10Hz ~ 30MHz | |
* S 為選購等效模型分析功能 | ||
小分辨率 | 100mHz, 6位元頻率輸入 | |
準確度 | 7 ppm±100mHz | |
基本測量準確度 | ± 0.08% (典型值± 0.05% ) | |
AC 測(ce)試信號位準
| 測試信號電壓範圍 | 10mV - 2Vrms |
電壓小分辨率 | 1mV | |
準確度 | ALC ON:6% * 設定電壓 ±2mV ALC OFF:10% * 設定電壓 ±2mV | |
測試信號電流範圍 | 200µA - 20mArms | |
電流小分辨率 | 10µA | |
準確度 | ALC ON:6% * 設定電流 ± 20µA ALC OFF:10% * 設定電流 ± 20µA | |
DC測試信號位準 | 1V (固定) | |
測量時間 | < 3mS | |
輸出阻抗 | 可切換25Ω、100Ω (標稱值) | |
測試參數 | |Z|(阻抗)、|Y|(導納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串並聯電阻)、G(電導)、B(電納)、L(電感)、D(損耗因數)、Q(品質因數)、DCR(直流電阻) 、C(電容)、ESR(等效串聯電阻) 、ε (相對介電係數)、μr (相對導磁係數) | |
Bias | 可搭配 DC Bias 6210/6220/6240 | |
測量模式 | 電錶模式、多(duo)步測試、掃(sao)描圖形分析、*等(deng)效電路模型(xing)分析(S型(xing)號 選購) | |
等效電路 | 串聯、並聯 | |
校正 | 開路、短路、負載 | |
多步列表測試 | 50組 ,每組15個測試步驟 | |
等效電路模型分析 (選購) | 三元件 (4 種模型)、四元件(3 種模型) | |
多步列表測試 | 50組多步測試設定(每組15個測試步驟) | |
內建直流偏置電壓 | -12 to +12V, 0.3% ±1.5mV, 100Hz to 30MHz | |
BIN分類 | 9級 (大) | |
比較器 | ABS、ΔABS、Δ%、OFF | |
內建儲存 | 100組LCR Meter測試設定文件 、50組多步測試設定 | |
USB Host 儲存 | LCR Meter測試設(she)定文件、多步測試設(she)定文件、BMP圖像、掃圖畫面及資(zi)料 | |
介面 | RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device | |
選購 | 電腦連線軟體 | |
等效電路模型分析,三元件 (4種模型)、四元件 (3種模型) | ||
外掛直流偏置電壓/電流 ( 0 到 ±40V/±100mA) | ||
電源需求 | 電壓 90-264Vac | |
頻率 47-63Hz | ||
低功耗:大30W | ||
液晶螢幕 | 7吋TFT, 彩色顯示 (800*480) | |
操作環境 | 溫度:10-40℃、濕度:20-90%RH | |
外觀尺寸(W*H*D) | 336x147x340 mm | |
重量 | 3.95Kg |
參數量測範圍
|Z| | 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
R, X | ± 0.000 mΩ to 9999.99 MΩ |
|Y| | 0.00000 μS to 999.999 kS |
G, B | ± 0.00000 μS to 999.999 kS |
θRAD | ± 0.00000 to 3.14159 |
θDEG | ± 0.000° to 180.000° |
Cs, Cp | ± 0.00000 pF to 9999.99 F |
Ls, Lp | ± 0.00 nH to 9999.99 kH |
D | 0.00000 to 9999.99 |
Q | 0.00 to 9999.99 |
Δ | ± 0.00% to 9999.99% |
Rdc | 0.00 mΩ to 99.9999 MΩ |
εr' εr'' | 0 to 100000 |
μr' μr'' | 0 to 100000 |
應用範圍
被動元件 | 電容器、電感器、電阻器、變壓器、陶瓷諧振器、石英晶體 |
半導體元件 | 變容二極體之 cv 特性分析、二極體 |
介電質材料 | 塑膠、陶瓷、印刷電路板的電容率和損耗正切評估 |
導磁材料 | |
其他元件 | 電路板上的元件阻抗評估 |