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MICROTEST 9333+6420 PCB線圈微短路測試儀

NFC天線(xian)或WPC無線(xian)充電線(xian)圈(quan)板採(cai)用軟板材料能夠(gou)滿足『智(zhi)(zhi)慧(hui)手持(chi)設備(bei)』或『穿戴式(shi)智(zhi)(zhi)慧(hui)產品』輕巧訴求下，FPC佈線(xian)成(cheng)線(xian)圈(quan)繞組不(bu)論是蝕刻(ke)或銀(yin)膠印刷會(hui)因製程不(bu)良導致線(xian)圈(quan)與(yu)線(xian)圈(quan)相互接觸產生微短路現象，往往這種品質瑕疵漏洞造(zao)成(cheng)下游模組廠功能測試結果(guo)為NG，後變成(cheng)客訴的主要(yao)因素(su)。

線(xian)圈(quan)微短路現象(xiang)嚴重(zhong)(zhong)時(shi)會導致(zhi)WPC無(wu)線(xian)充(chong)電(dian)(dian)(dian)模組(zu)無(wu)法進行充(chong)電(dian)(dian)(dian)功(gong)能，或是應用在(zai)行動支付上(shang)NFC應用卡片感應不良(liang)，因此PCB線(xian)圈(quan)微短瑕疵檢(jian)(jian)測(ce)成(cheng)為品質的重(zhong)(zhong)要課(ke)題。PCB線(xian)圈(quan)微短測(ce)試機9333採用非破壞性的高壓檢(jian)(jian)測(ce)，檢(jian)(jian)測(ce)方式為加(jia)壓線(xian)圈(quan)的兩(liang)端(duan)利用瞬間(jian)電(dian)(dian)(dian)壓使待測(ce)物線(xian)圈(quan)電(dian)(dian)(dian)感與測(ce)試機內部標準電(dian)(dian)(dian)容相(xiang)互(hu)諧振出能量(liang)(liang)從釋放(fang)到衰減會產出一(yi)組(zu)波形，透過波形比對出PCB線(xian)圈(quan)本身(shen)絕緣、電(dian)(dian)(dian)感量(liang)(liang)與並聯電(dian)(dian)(dian)容量(liang)(liang)為小的變化(hua)，藉此把(ba)關PCB製程對線(xian)圈(quan)造(zao)成(cheng)的微短路瑕疵。

• PCB線圈因製程不良，導致線圈微短現象(圈與圈之間/層與層之間相互接近短路)，可能在成品測試階段出現NG不良的客訴風險
• 製程分析或是品保控管品質的蕞佳
• 可同時測試多組線圈板提升效率
• 電測方式非破壞性分析- 瞬間電壓測試
• 透過L/C相互放電諧振釋放出波形進行比對
• 整合LCR 量測功能，對線圈板進行權方位品質控管(電感量/電感Q值/直流電阻)

量測數據

規格

功能項目

MICROTEST 9333+6420 PCB線圈微短路測試儀