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MICROTEST 9333+6420 PCB線圈微短路測試儀

NFC天(tian)線或(huo)WPC無線充電線圈板(ban)採用(yong)軟板(ban)材料能(neng)夠滿足『智慧(hui)手持(chi)設備(bei)』或(huo)『穿戴式智慧(hui)產(chan)品(pin)』輕巧訴(su)求下，FPC佈(bu)線成線圈繞組不(bu)論(lun)是蝕刻或(huo)銀膠印(yin)刷會(hui)因(yin)製程不(bu)良(liang)導致線圈與線圈相互接(jie)觸產(chan)生微短路現象(xiang)，往往這種品(pin)質瑕疵(ci)漏洞造(zao)成下游(you)模組廠(chang)功能(neng)測試結果為NG，後變(bian)成客訴(su)的主要因(yin)素(su)。

線(xian)圈微(wei)短路現象嚴重(zhong)時會(hui)導致WPC無(wu)(wu)線(xian)充電(dian)(dian)模組無(wu)(wu)法進(jin)行充電(dian)(dian)功能，或是應(ying)用在行動支付上(shang)NFC應(ying)用卡片感(gan)應(ying)不(bu)良，因此(ci)(ci)PCB線(xian)圈微(wei)短瑕疵(ci)檢測成(cheng)為品質的(de)重(zhong)要(yao)課(ke)題(ti)。PCB線(xian)圈微(wei)短測試(shi)機(ji)9333採用非破壞性的(de)高壓檢測，檢測方式(shi)為加壓線(xian)圈的(de)兩端利用瞬間電(dian)(dian)壓使待測物(wu)線(xian)圈電(dian)(dian)感(gan)與測試(shi)機(ji)內部標(biao)準電(dian)(dian)容相互諧(xie)振出(chu)能量從釋放(fang)到衰減會(hui)產出(chu)一(yi)組波形，透(tou)過(guo)波形比對出(chu)PCB線(xian)圈本身(shen)絕緣(yuan)、電(dian)(dian)感(gan)量與並聯電(dian)(dian)容量為小的(de)變(bian)化，藉此(ci)(ci)把(ba)關PCB製程對線(xian)圈造成(cheng)的(de)微(wei)短路瑕疵(ci)。

• PCB線圈因製程不良，導致線圈微短現象(圈與圈之間/層與層之間相互接近短路)，可能在成品測試階段出現NG不良的客訴風險
• 製程分析或是品保控管品質的蕞佳
• 可同時測試多組線圈板提升效率
• 電測方式非破壞性分析- 瞬間電壓測試
• 透過L/C相互放電諧振釋放出波形進行比對
• 整合LCR 量測功能，對線圈板進行權方位品質控管(電感量/電感Q值/直流電阻)

量測數據

規格

功能項目

MICROTEST 9333+6420 PCB線圈微短路測試儀