CS19010系列局部放電測試儀是一款適用于高壓隔離集成電路（如光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數字通信芯片）、半導體高壓開關（如IGBT、MOSFET），及高壓絕緣組件（如隔離基板）、低容值高壓電容器等器件局部放電和耐壓測試的綜合測量設備，可實現0.1kV~10kV范圍內耐壓測試和局部放電測試。

      CS19010系列局部放電測試儀采用試品串聯耦合測量模式，測試方法符合通用局放測量標準GB/T 7354-2018 （IEC60270：2000），同時也符合特定器件的局放測量標準，如光隔離器安全標準（IEC60747-5-5）、數字隔離器安全標準（IEC60747-17）、低電壓設備安全標準（IEC60664-1）、半導體開關組件標準（IEC 60747-15）等；具有自定義高壓輸出波形、多種測量條件合格判斷功能，用戶可根據需求柔性組合，實現0.01uA~1mA泄漏電流測量和1pC~200pC局部放電測量，可滿足大多數集成隔離器件和高絕緣材料的產品品質測試需求。

      CS19010系列局部放電測試儀的主要應用領域：（1）工業生產，依據相關標準在高壓器件（組件）生產過程中進行局部放電常規測試或現場診斷測試；（2）科學研究，對高壓絕緣材料進行局部放電特性研究或絕緣劣化過程研究。