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當前位置:網站首頁產品展示元器件參數測試儀器LCR數字電橋 > TH2840B 精密LCR數字電橋

TH2840B 精密LCR數字電橋

簡要描(miao)述(shu):■ 測試頻率(lv):20Hz-2MHz■ 高(gao)(gao)穩定性(xing)和一致性(xing):14個量(liang)程配置(zhi)■ 高(gao)(gao)功(gong)(gong)率(lv):信號電平(ping):20VAC/100mAAC 內置(zhi)直流偏(pian)置(zhi):±40VDC/100mADC 內置(zhi)電流源:±2A■ DCR電平(ping):20VDC/100mADC■ 高(gao)(gao)速度(du):雙CPU架(jia)構,測量(liang)速度(du)高(gao)(gao)達1000次(ci)/s■ 高(gao)(gao)分(fen)辨:10.1英(ying)寸,分(fen)辨率(lv)1280*800,電容(rong)式觸摸(mo)屏■ 點測、列表掃(sao)描(miao)(miao)、圖(tu)形(xing)掃(sao)描(miao)(miao)三種測試方式■ 四參(can)(can)數測量(liang)■ 201點多參(can)(can)數列表掃(sao)描(miao)(miao)功(gong)(gong)能(neng)■ 圖(tu)形(xing)掃(sao)描(miao)(miao)功(gong)(gong)能(neng),4軌跡(ji)任意選擇,支(zhi)持(chi)1/2/4分(fen)屏■ 分(fen)選功(gong)(gong)能(neng):LCR模式10檔(dang)分(fen)選■ 高(gao)(gao)兼容(rong)性(xing):支(zhi)持(chi)SCPI/MODBUS指令集, 兼容(rong)KEYSIGHT E4980A、E4980AL、HP4284A

更新(xin)時(shi)間:2023-12-03

產品型號(hao):

所屬分類(lei):LCR數字電橋

訪問量:209

詳細說明:

簡介
應用

無源元件:

電(dian)(dian)容(rong)器、電(dian)(dian)感器、磁(ci)芯、電(dian)(dian)阻器、壓電(dian)(dian)器件(jian)、變壓器、芯片(pian)組(zu)

件和(he)網絡元(yuan)件等(deng)的阻抗參數評估和(he)性能分析。

半導體元件:

LED驅動集成電(dian)路寄生參數測(ce)試分析(xi);變容二極管的C-VDC特性;

晶體管或(huo)集(ji)成(cheng)電路的寄(ji)生參數(shu)分析

其它元件:

印(yin)制(zhi)電路板、繼電器、開關(guan)、電纜、電池等的阻抗評估

介質材料:

塑(su)料、陶瓷(ci)和(he)其它材料的介電常數和(he)損耗角(jiao)評估

磁性材料:

鐵氧體(ti)(ti)(ti)、非(fei)晶(jing)體(ti)(ti)(ti)和(he)其它磁性材(cai)料的導(dao)磁率和(he)損耗角評估

半導體材料:

半(ban)導體材料的介電常數、導電率和C-V特(te)性


技術參數

產品型號

TH2840A

TH2840B

顯示

顯示器(qi)

10.1英寸(cun)電容觸摸屏(ping)

比例

16:9

分辨率

1280×RGB×800

測量參數

方式

四(si)參數任意選擇

AC

Cp/Cs、Lp/Ls、Rp/Rs、|Z|、|Y|、R、X、G、B、θ、D、Q、VAC、IAC

DC

RDC、VDC、IDC

測試頻率

范圍(wei)

20Hz-500kHz

20Hz-2MHz

精度

0.01%

分辨率(lv)

0.1mHz (20.0000Hz-99.9999Hz)

1mHz (100.000Hz-999.999Hz)

10mHz (1.00000kHz-9.99999kHz)

100mHz (10.0000kHz-99.9999kHz )

1Hz (100.000kHz-999.999kHz)

10Hz (1.00000MHz-2.00000MHz)

AC測試信(xin)號模式

額(e)定值(ALC OFF)

設定(ding)電壓為測(ce)試端開路時Hcur電壓

設定電流為測試端短路(lu)時從Hcur流出電流

恒定值(ALC ON)

保持DUT上電壓與設定(ding)值相同

保持DUT上電流與設(she)定值相同

測試電平

電(dian)壓范圍(wei)

5mVrms-20Vrms

F≤1MHz 5mVrms-20Vrms

F>1MHz 5mVrms-15Vrms

準確度(du)

±(10%×設定值+2mV)(AC≤2Vrms)

±(10%×設定值+5mV)(AC>2Vrms)

分辨率

1mVrms(5mVrms-0.2Vrms)

1mVrms(0.2Vrms-0.5Vrms)

1mVrms(0.5Vrms-1Vrms)

10mVrms(1Vrms-2Vrms)

10mVrms(2Vrms-5Vrms)

10mVrms(5Vrms-10Vrms)

10mVrms(10Vrms-20Vrms)

電流范圍(wei)

50μArms-100mArms

分辨率(100Ω內阻(zu))

10μArms (50μArms-2mArms)

10μArms (2mArms-5mArms)

10μArms (5mArms-10mArms)

100μArms (10mArms-20mArms)

100μArms (20mArms-50mArms)

100μArms (50mArms-100mArms)

RDC測試

電壓范圍

100mV-20V

分辨率(lv)

1mV(0V-1V)

10mV(1V-20V)

電流范圍

0mA-100mA

分辨率

10μA(0mA-10mA)

100μA(10mA-100mA)

DC偏置

電壓范圍(wei)

0V-±40V

準(zhun)確度

AC≤2V 1%×設定(ding)電壓+5mV

AC>2V 2%×設(she)定電壓+8mV

分辨率

1mV(0V-1V)

10mV(±1V- ±40V)

電流范圍(wei)

0mA-±100mA

分辨率

10μA(0mA-10mA)

100μA(10mA-100mA)

內置電流(liu)源

電流范圍(wei)

0mA-2A

準(zhun)確度

I>5mA ±(2%×設定值+2mA)

分辨率

1mA

測試端配置

四端(duan)對(dui)

測試(shi)電纜長度(du)

0m、1m、2m、4m

輸出阻抗

30Ω,±4%@1kHz

100Ω,±2%@1kHz

數學運(yun)算

與(yu)標稱(cheng)值的偏差(cha)Δ,與(yu)標稱(cheng)值的百分比偏差(cha)Δ%

等效方(fang)式

串聯、并聯

校準(zhun)功能(neng)

開(kai)路OPEN、短(duan)路SHORT、負載LOAD

測量(liang)平均

1-255次(ci)

量程選擇

自動(dong)(dong)AUTO、手動(dong)(dong)HOLD

量程配置

LCR

100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ

RDC

1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ

測量(liang)時(shi)間(ms)

快速(su)+: 1ms

快速:3.3ms

中速: 90ms

慢速(su): 220ms

準確度(du)

0.05%(具(ju)體(ti)參考說明書)

測量顯示(shi)范圍

Cs、Cp

0.00001pF-9.99999F

Ls、Lp

0.00001μH-99.9999kH

D

0.00001-9.99999

Q

0.00001-99999.9

R、Rs、Rp、X、Z、RDC

0.001mΩ-99.9999MΩ

G、B、Y

0.00001μs-99.9999S

VDC

±0V-±999.999V

IDC

±0A-±999.999A

θr

-3.14159-3.14159

θd

-179.999°-179.999°

Δ%

±(0.000%-999.9%)

多(duo)功能參數列(lie)表掃描

點數

201點(dian),每個點(dian)可設置(zhi)平(ping)均(jun)次數(shu),每個點(dian)可單(dan)獨(du)分選

參(can)數

測試頻率、AC電(dian)壓、AC電(dian)流(liu)、DC BIAS電(dian)壓、DC BIAS電(dian)流(liu)(100mA)、DC BIAS電(dian)流(liu)(2A)

觸發模式

順(shun)序SEQ:當(dang)一次觸(chu)發后,在所有掃描點測(ce)量,/EOM/INDEX只輸出一次

步進STEP:每(mei)(mei)次(ci)觸發(fa)執行一個掃(sao)描(miao)點測量,每(mei)(mei)點均輸出(chu)/EOM/INDEX,但列表(biao)掃(sao)描(miao)比較(jiao)器結果只在最后的/EOM才輸出(chu)

其(qi)他特點

1.掃(sao)描參(can)數與測試參(can)數都有多種復制功能(neng)

2.每個掃描點均可(ke)設置延時

比(bi)較器

每個(ge)掃(sao)描(miao)點最多可測(ce)量(liang)四個(ge)測(ce)試(shi)參數,每個(ge)參數均可設置上下(xia)限,所有測(ce)試(shi)參數都合格輸出PASS信號,否則(ze)輸出FAIL信號,未設上下(xia)限則(ze)不判斷

圖形(xing)掃描

掃描點數

51、101、201、401、801點(dian)可選

結果顯(xian)示

每(mei)個參(can)(can)數的極(ji)值(zhi)以及光(guang)標所在(zai)點的掃(sao)描參(can)(can)數值(zhi)與對(dui)應的測試(shi)參(can)(can)數值(zhi)

掃描軌(gui)跡(ji)

1-4個測試(shi)參數任意選擇,掃描曲(qu)線可以一(yi)分屏、二分屏、四(si)分屏

顯示范圍

實時自動、鎖定

坐標標尺

對數、線性(xing)

掃描參數

頻率、AC電壓、AC電流(liu)、DCV BIAS / DCI BIAS(100mA) / DCI BIAS(2A)

觸發(fa)方式(shi)

單(dan)次

手動觸發(fa)一次,從起點(dian)到終點(dian)一次掃描完成(cheng),下(xia)個(ge)觸發(fa)信(xin)號(hao)啟動新一次掃描

連續(xu)

從起點到終點無限次循環(huan)掃描

結(jie)果保存

圖形、文(wen)件

比較器

Bin分(fen)檔

10Bin、PASS、FAIL

Bin偏差設置(zhi)

偏差(cha)值(zhi)、百(bai)分(fen)偏差(cha)值(zhi)、關(guan)

Bin模式

容差、連續

Bin計數

0-99999

檔判別(bie)

每檔最多可設(she)(she)置四(si)個參數(shu)(shu)極限范(fan)圍(wei),四(si)個測(ce)試參數(shu)(shu)結果設(she)(she)檔范(fan)圍(wei)內顯示(shi)對應檔號,超出設(she)(she)定檔號范(fan)圍(wei)則(ze)顯示(shi)FAIL,未設(she)(she)置上下限的測(ce)試參數(shu)(shu)自(zi)動忽略(lve)檔判別

PASS/FAIL指示

滿足Bin1-10,前(qian)面(mian)板PASS燈亮(liang),否則FAIL燈量

數(shu)據(ju)緩存

201個(ge)測量結果(guo)可分批讀取

存(cun)儲(chu)調用

內部

約100M非易失存儲(chu)器測(ce)試設定(ding)文件

外(wai)置(zhi)USB

測(ce)試設定文(wen)件、截屏圖(tu)形、記錄(lu)文(wen)件

鍵盤鎖定

可鎖定前面板按(an)鍵,其他功(gong)能待擴充(chong)

接口

USB HOST

2個USB HOST接(jie)口(kou),可同時接(jie)鼠標、鍵盤,U盤同時只能使用(yong)一個

USB DEVICE

通用(yong)串行總(zong)線插(cha)座(zuo),小(xiao)型B類(lei)(4個接(jie)觸位置);與(yu)USB TMC-USB488和USB2.0相符合(he),陰(yin)接(jie)頭用(yong)于連接(jie)外部控制(zhi)器。

LAN

10/100M以太網自適應

HANDLER

用于Bin分檔信號輸出

外(wai)部DC BIAS控制

支持TH1778A

RS232C

標準9針,交叉

RS485

可(ke)以接(jie)受改制或(huo)外(wai)接(jie)RS232轉RS485模塊

開機預熱時間(jian)

60分鐘

輸入電壓

100-120VAC/198-242VAC可選擇,47-63Hz

功耗

不小于130VA

尺寸(cun)(WxHxD)mm3

430x177x265

重量(kg)

11kg



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