益和MICROTEST6364經(jing)濟(ji)型LCR測試儀 6364經(jing)濟(ji)型 LCR Meter具備高(gao)精(jing)確度、速度，且經(jing)濟(ji)型多功能(neng)(neng)，測試頻率範圍(wei)從(cong)10Hz~100kHz。基本精(jing)確度±0.05%，螢幕畫(hua)面可(ke)(ke)以同(tong)時顯示(shi)四個參數。具多步列表功能(neng)(neng)，多可(ke)(ke)以設定8組。低頻率
益和MICROTEST6365經(jing)濟(ji)(ji)型(xing)LCR測(ce)試儀 6365經(jing)濟(ji)(ji)型(xing) LCR Meter具備高精(jing)確度、速(su)度，且(qie)經(jing)濟(ji)(ji)型(xing)多(duo)功(gong)能(neng)，測(ce)試頻率(lv)範(fan)圍從10Hz~200kHz。基本(ben)精(jing)確度±0.05%，螢幕畫(hua)面可以(yi)同時(shi)顯示四個參數(shu)。具多(duo)步列(lie)表功(gong)能(neng)，多(duo)可以(yi)設定8組。低頻率(lv)
益和MICROTEST6366經(jing)濟型(xing)LCR測試儀 6366經(jing)濟型(xing) LCR Meter具(ju)備高精確(que)(que)度(du)、速度(du)，且(qie)經(jing)濟型(xing)多(duo)功(gong)能，測試頻率範(fan)圍從10Hz~500kHz。基本精確(que)(que)度(du)0.05%，螢(ying)幕畫面可以(yi)同時顯(xian)示四個參(can)數。具(ju)多(duo)步列表功(gong)能，多(duo)可以(yi)設定8組。低頻率
益和MICROTEST6367經(jing)濟型LCR測(ce)試儀(yi) 6367經(jing)濟型 LCR Meter具備高(gao)精確(que)度、速度，且經(jing)濟型多(duo)功(gong)能，測(ce)試頻(pin)率(lv)範(fan)圍從10Hz~1MHz。基本精確(que)度±0.05%，螢幕畫面(mian)(mian)可(ke)以同(tong)時顯示(shi)四個(ge)參數(shu)。具多(duo)步列表功(gong)能，多(duo)可(ke)以設定8組。低(di)頻(pin)率(lv)6365A（0.1Hz~200kHz）可(ke)量測(ce)容量大的鋁電解電容。支援USB Host、RS-232、GPIB、Handler、LAN等介(jie)面(mian)(mian)。
益和(he)MICROTEST6630精密型LCR測(ce)試(shi)(shi)儀 6630 精密型 LCR 測(ce)試(shi)(shi)儀，提(ti)供(gong)(gong) 6 種頻率(lv)選(xuan)項(xiang)（10 Hz 至1/3/5/10/20/30 MHz），可(ke)以進(jin)(jin)行交流(liu)信號的LCR測(ce)試(shi)(shi)，測(ce)試(shi)(shi)頻率(lv)和(he)測(ce)試(shi)(shi)級(ji)別可(ke)進(jin)(jin)行連(lian)續(xu)變化的階段(duan)測(ce)量(liang)。可(ke)在不(bu)同測(ce)試(shi)(shi)、模(mo)式條件下、進(jin)(jin)行高速地(di)連(lian)續(xu)測(ce)試(shi)(shi)。提(ti)供(gong)(gong)輸出阻抗25?/100?可(ke)切換(huan)，ALC補償(chang)，多步測(ce)試(shi)(shi);BIN 分類及比較器功能在自動(dong)元件生產時(shi)進(jin)(jin)行良(liang)品(pin)與不(bu)良(liang)品(pin)分類
