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美瑞(rui)克Rek RK2670YM耐(nai)壓(ya)測試儀 本產品同時也適合需要檢測“閃絡”缺陷(xian)各種電氣(qi)設備(bei)等，是電氣(qi)設備(bei)制(zhi)造(zao)商、維(wei)修(xiu)部(bu)門(men)(men)、使用單位以及(ji)產品質量檢測部(bu)門(men)(men)、技(ji)術監督部(bu)門(men)(men)不可少的耐(nai)壓(ya)測試儀。符合GB9706.1-2020（IEC60601-1：2012）標準

美瑞克(ke)Rek RK9910程控絕(jue)緣耐壓(ya)(ya)(ya)測試(shi)(shi)儀 本系列程控耐壓(ya)(ya)(ya)測試(shi)(shi)儀是采用高速(su)MCU和大(da)規模數字電(dian)(dian)(dian)路設計的(de)(de)高性能的(de)(de)安規測試(shi)(shi)儀，其輸出電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)的(de)(de)大(da)小，輸出電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)的(de)(de)上升、下降。輸出電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)的(de)(de)頻率安全由MCU控制，能實時(shi)顯(xian)示擊(ji)穿電(dian)(dian)(dian)流和電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)(ya)值，并(bing)具有(you)軟件校準(zhun)功能，配(pei)備PLC接口、RS232C、RS485、USB device、USB Host接口，可方(fang)便(bian)與計算機或PLC組成(cheng)綜合測試(shi)(shi)系統。

美(mei)瑞(rui)克Rek RK9920程控(kong)(kong)絕緣耐壓(ya)(ya)測試儀(yi)(yi) 本系列程控(kong)(kong)耐壓(ya)(ya)測試儀(yi)(yi)是采用(yong)高(gao)速MCU和大規模數字電路設計的高(gao)性能的安(an)規測試儀(yi)(yi)，其(qi)輸(shu)(shu)(shu)出(chu)電壓(ya)(ya)的大小，輸(shu)(shu)(shu)出(chu)電壓(ya)(ya)的上升、下降。輸(shu)(shu)(shu)出(chu)電壓(ya)(ya)的頻率安(an)全由MCU控(kong)(kong)制，能實(shi)時顯(xian)示擊(ji)穿電流和電壓(ya)(ya)值，并具有(you)軟件校準功能，配備PLC接口、RS232C、RS485、USB device、USB Host接口，可方便與計算機或PLC組成綜合測試系統。

美瑞克Rek RK7122程控(kong)絕(jue)緣(yuan)耐(nai)壓測(ce)試(shi)儀 本系列程控(kong)耐(nai)壓測(ce)試(shi)儀是(shi)采(cai)用高速MCU和大規(gui)模數字電路(lu)設計的(de)高性(xing)能(neng)的(de)安規(gui)測(ce)試(shi)儀，其輸(shu)出(chu)電壓的(de)大小(xiao)，輸(shu)出(chu)電壓的(de)上升。輸(shu)出(chu)電壓的(de)頻(pin)率安全由MCU控(kong)制(zhi)，能(neng)實時(shi)顯示擊穿(chuan)電流(liu)和電壓值，并具有軟件校準功(gong)能(neng)，可以(yi)直觀、準確、快速地測(ce)試(shi)各種被(bei)測(ce)對象的(de)擊穿(chuan)電壓、漏(lou)電流(liu)等電氣(qi)安全性(xing)能(neng)指標，并可以(yi)作為高壓源用來(lai)測(ce)試(shi)元器件和整機性(xing)能(neng)。

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