TH2883系(xi)(xi)列產品是同(tong)惠(hui)研(yan)發的脈(mo)沖式線圈測(ce)試(shi)儀產品線。可完整提供低壓30V到(dao)高壓10kV，單通道(dao)到(dao)多(duo)通道(dao)（8通道(dao)）系(xi)(xi)列線圈測(ce)試(shi)儀解(jie)決方案。

該產品線(xian)采用當(dang)前主流32bit CPU和高(gao)(gao)密度 SMD貼裝(zhuang)工(gong)藝，65k色(se)的(de)(de)7寸寬屏(ping)TFT顯示器。操(cao)作(zuo)功能簡潔易用，顯示界面清新(xin)亮(liang)麗。30V，10kV涵蓋寬范圍脈沖電(dian)壓(ya)，低(di)至1uH電(dian)感量的(de)(de)線(xian)圈(quan)測(ce)試，高(gao)(gao)達200Msps的(de)(de)采樣率，6k Bytes的(de)(de)存儲(chu)深度，讓您(nin)的(de)(de)測(ce)試“無微不至"。

TH2883系列(lie)根據輸(shu)出電壓不(bu)同(tong)分為TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三(san)(san)種(zhong)(zhong)單通(tong)道輸(shu)出的(de)型號。TH2883-1是(shi)(shi)低電感脈沖(chong)(chong)(chong)式線圈(quan)(quan)測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)，具(ju)有(you)30V、1200V的(de)脈沖(chong)(chong)(chong)電壓，可(ke)測(ce)試(shi)低至1uH電感量(liang)的(de)線圈(quan)(quan)，是(shi)(shi)開(kai)關電源(yuan)等所用(yong)電感線圈(quan)(quan)的(de)理想測(ce)試(shi)產品。TH2883-5具(ju)有(you)100V-5000V的(de)寬范圍脈沖(chong)(chong)(chong)電壓，是(shi)(shi)測(ce)試(shi)各種(zhong)(zhong)線圈(quan)(quan)的(de)標配產品。TH2883-10具(ju)有(you)10kV的(de)脈沖(chong)(chong)(chong)輸(shu)出電壓，可(ke)測(ce)試(shi)更高絕(jue)緣耐壓的(de)匝間測(ce)試(shi)。若配備TH28831匝間絕(jue)緣多路(lu)掃(sao)描儀(yi)(yi)可(ke)將(jiang)上述三(san)(san)款單通(tong)道測(ce)試(shi)儀(yi)(yi)擴展為10通(tong)道。

TH2883系列還(huan)提(ti)供(gong)了4通道與(yu)8通道兩(liang)款多路測試的(de)一體(ti)機，他們(men)所對應(ying)的(de)型號(hao)分別為(wei)TH2883S4-5和(he)TH2883S8-5供(gong)用戶靈活選擇。

TH2883系列產(chan)品標(biao)配USBHost、RS232C、USB Device和LAN接口，既方便(bian)您圖形的快速保存(cun)，又(you)方便(bian)您進(jin)行遠程(cheng)控制。

功能特點

A. 線圈性(xing)能(neng)分析

線圈(quan)類產(chan)品（如變壓器、電(dian)(dian)機(ji)等(deng)）由于繞(rao)(rao)線材料、磁(ci)性材料、骨架、加(jia)工工藝等(deng)因素的(de)(de)(de)(de)(de)影響會產(chan)生(sheng)線圈(quan)層(ceng)間(jian)(jian)、匝間(jian)(jian)及引(yin)腳間(jian)(jian)等(deng)絕緣(yuan)性能的(de)(de)(de)(de)(de)降低(di)。TH2883系列(lie)脈沖式線圈(quan)測試儀通過(guo)比較(jiao)被測線圈(quan)的(de)(de)(de)(de)(de)衰減振蕩波(bo)(bo)型與(yu)標準(zhun)波(bo)(bo)形來判定(ding)該繞(rao)(rao)組的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)感、品質(zhi)因素（Q值(zhi)）、繞(rao)(rao)組的(de)(de)(de)(de)(de)圈(quan)數差(cha)、匝間(jian)(jian)層(ceng)間(jian)(jian)短路，在(zai)有導(dao)磁(ci)材料的(de)(de)(de)(de)(de)情(qing)況下還能判斷(duan)其材質(zhi)的(de)(de)(de)(de)(de)差(cha)別(bie)，高(gao)壓脈沖下電(dian)(dian)暈放電(dian)(dian)的(de)(de)(de)(de)(de)發生(sheng)還可以對繞(rao)(rao)組層(ceng)間(jian)(jian)或(huo)多個繞(rao)(rao)組間(jian)(jian)絕緣(yuan)不良進行判定(ding)。

圖A-1中的自激振(zhen)蕩(dang)衰減波形直(zhi)接和線圈(quan)(quan)的電(dian)(dian)感值 L 及(ji)品質因(yin)素 Q 值有著密切的關系，而(er) L 值及(ji) Q 值又和線圈(quan)(quan)的圈(quan)(quan)數、制造工藝、是否空(kong)心線圈(quan)(quan)并且還與導磁材(cai)料(liao)特性又有著不可(ke)分割的關系。由(you)于(yu)施加電(dian)(dian)壓是高壓脈沖(chong)電(dian)(dian)壓，因(yin)此，線圈(quan)(quan)短路、匝間(jian)局部短路或由(you)于(yu)絕緣損(sun)傷引起的層間(jian)或匝間(jian)電(dian)(dian)暈(yun)放電(dian)(dian)現象(xiang)自然(ran)很容易(yi)被(bei)發現。

B. 四種(zhong)波形判(pan)斷方法

a) 面積(ji)比較方(fang)法(fa)

如圖(tu) B-1 所示，在(zai)任(ren)意的(de) A～B 區間內(nei)(nei)對被測線圈測試波(bo)(bo)形面(mian)積(ji)進(jin)(jin)行(積(ji)分)計算(suan)，并(bing)與標準(zhun)波(bo)(bo)形在(zai)此區間內(nei)(nei)的(de)面(mian)積(ji)進(jin)(jin)行比較，用這兩個(ge)波(bo)(bo)形面(mian)積(ji)的(de)差異值與標準(zhun)波(bo)(bo)形在(zai)此區間的(de)面(mian)積(ji)的(de)百分比作為判(pan)定依據，判(pan)定基(ji)準(zhun)用百分比來設(she)定。

波形面積近似(si)的與能(neng)量(liang)損失(shi)成正(zheng)比，所以可以使用面積比較方(fang)法來判斷線圈中的能(neng)量(liang)損耗(hao)，有效的檢測(ce)線圈層間(jian)和匝間(jian)短路。

b) 面(mian)積差比較(jiao)方法

如(ru)圖 B-2 所示(shi)，在任意(yi) A～B 區(qu)間內對被測線圈(quan)測試(shi)波形(xing)和(he)標準波形(xing)的(de) Y 軸方(fang)向的(de)差異(yi)值(zhi)進行(xing)計算(積(ji)分計算的(de)結(jie)果為 A～B 區(qu)間內的(de)陰影部分)和(he)標準波形(xing)在此(ci)區(qu)間的(de)面積(ji)比較，基準用百(bai)分比來(lai)設(she)定。

面積差比(bi)(bi)較方法(fa)主要表現了電感量(liang) L 的(de)差異和能量(liang)的(de)損耗，這個(ge)比(bi)(bi)較方法(fa)可(ke)以有(you)效的(de)檢測標準線圈和被測線圈的(de)電感量(liang) L 的(de)差異。

c) 電暈(yun)比較方(fang)法

如圖 B-3 所(suo)示，與(yu)(yu)波(bo)(bo)形的(de)差(cha)異(yi)無(wu)關，在任意的(de) A～B 區(qu)間內，僅(jin)在被測線(xian)圈(quan)測試波(bo)(bo)形包(bao)含的(de)電(dian)(dian)暈(yun)放電(dian)(dian)尖峰中檢出高(gao)頻(pin)成分(fen)進行無(wu)損提(ti)取(qu)，并(bing)將計算結(jie)果與(yu)(yu)設定值進行比較， 判定電(dian)(dian)暈(yun)放電(dian)(dian)量是(shi)(shi)否(fou)合格，設定值是(shi)(shi)一個(ge)整數。

此方法對線(xian)圈內(nei)部絕(jue)緣性能(neng)反應。對于線(xian)圈絕(jue)緣性能(neng)要(yao)求(qiu)高的場合需(xu)要(yao)使(shi)用電暈比較方法，因(yin)為絕(jue)緣性能(neng)的好壞直接(jie)影響線(xian)圈產(chan)品的使(shi)用壽命到長短。

d) 相(xiang)位差比(bi)較(jiao)方法

如圖 B-4 所示，用(yong)(yong)戶可以一個(ge)需要作比(bi)(bi)(bi)較的過零(ling)點，儀器判(pan)斷被(bei)測線(xian)圈測試波(bo)(bo)形和標(biao)準(zhun)(zhun)波(bo)(bo)形在這(zhe)個(ge)過零(ling)點的偏移量，然后和標(biao)準(zhun)(zhun)波(bo)(bo)形的振蕩(dang)周期作比(bi)(bi)(bi)較，并用(yong)(yong)這(zhe)兩個(ge)量的百分(fen)比(bi)(bi)(bi)作為(wei)判(pan)斷依據，基(ji)準(zhun)(zhun)用(yong)(yong)百分(fen)比(bi)(bi)(bi)來(lai)設(she)定。如圖中，A～B 間是偏移量，C～D 間是標(biao)準(zhun)(zhun)波(bo)(bo)形振蕩(dang)周期，設(she)定的是比(bi)(bi)(bi)較波(bo)(bo)形的第(di)3個(ge)過零(ling)點。

此(ci)方(fang)法主要用來(lai)反映電感量差(cha)異(yi)。線圈不良(liang)可以用相位差(cha)來(lai)判別。

面積比較(jiao)主要是根據能量(liang)損失，能夠很有效地進行層間短路和圈對圈的(de)(de)檢(jian)測(ce)，而電暈(yun)則是以發現(xian)線(xian)圈內部絕緣缺陷(xian)為目的(de)(de)的(de)(de)檢(jian)測(ce)方法。另外需要考慮(lv)電感值問題的(de)(de)話，可以增加面積差來(lai)比較(jiao)判(pan)定。

磁芯材料差(cha)異可(ke)以用面(mian)積(ji)、面(mian)積(ji)差(cha)和電暈方(fang)法(fa)來(lai)判(pan)別(bie)。對馬(ma)達、螺線(xian)管、繼(ji)電器等大部分(fen)線(xian)圈，采用面(mian)積(ji)比較和電暈測試方(fang)法(fa)。

C. 破壞測試功能

通過對線圈施(shi)加上(shang)升(sheng)步進電壓(ya)，結合電暈(yun)放電的情況來判斷被測件的極限耐壓(ya)值。

D. 多通道測(ce)試

TH2883系列提(ti)供(gong)4通(tong)道(dao)(dao)與8通(tong)道(dao)(dao)兩款多(duo)路測試(shi)(shi)的(de)(de)一(yi)(yi)體機，他們所對應(ying)的(de)(de)型號分別為TH2883S4-5和TH2883S8-5。此外還提(ti)供(gong)一(yi)(yi)款將單通(tong)道(dao)(dao)測試(shi)(shi)儀(yi)擴展為10通(tong)道(dao)(dao)的(de)(de)掃(sao)描擴展器供(gong)用(yong)戶(hu)靈活選(xuan)擇。多(duo)路測試(shi)(shi)儀(yi)的(de)(de)應(ying)用(yong)可以提(ti)高(gao)對三相四線或三項三線繞(rao)組的(de)(de)測試(shi)(shi)效(xiao)率，一(yi)(yi)次測試(shi)(shi)多(duo)個繞(rao)組，解(jie)決多(duo)次切換繞(rao)組的(de)(de)煩惱(nao)。