TH2883系列(lie)(lie)產(chan)品是同惠研發的(de)脈沖式線(xian)圈測試(shi)(shi)儀(yi)產(chan)品線(xian)。可(ke)完整提供低壓(ya)30V到(dao)高壓(ya)10kV，單通(tong)道到(dao)多通(tong)道（8通(tong)道）系列(lie)(lie)線(xian)圈測試(shi)(shi)儀(yi)解決方(fang)案(an)。

該產品線采(cai)用(yong)當前主(zhu)流32bit CPU和高(gao)密度 SMD貼裝(zhuang)工(gong)藝，65k色的7寸(cun)寬(kuan)屏(ping)TFT顯(xian)示器。操(cao)作功能簡潔易用(yong)，顯(xian)示界面(mian)清(qing)新亮麗。30V，10kV涵蓋寬(kuan)范圍脈沖電壓，低至1uH電感(gan)量(liang)的線圈測(ce)試，高(gao)達200Msps的采(cai)樣率，6k Bytes的存儲深度，讓您的測(ce)試“無(wu)微(wei)不至"。

TH2883系列根據輸出(chu)電(dian)(dian)壓不(bu)同分為TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三(san)種單通道輸出(chu)的(de)(de)型號(hao)。TH2883-1是低電(dian)(dian)感(gan)脈(mo)沖(chong)式線(xian)(xian)圈(quan)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)，具有(you)30V、1200V的(de)(de)脈(mo)沖(chong)電(dian)(dian)壓，可(ke)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)低至1uH電(dian)(dian)感(gan)量的(de)(de)線(xian)(xian)圈(quan)，是開關電(dian)(dian)源(yuan)等(deng)所用電(dian)(dian)感(gan)線(xian)(xian)圈(quan)的(de)(de)理想測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)產品。TH2883-5具有(you)100V-5000V的(de)(de)寬范圍(wei)脈(mo)沖(chong)電(dian)(dian)壓，是測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)各種線(xian)(xian)圈(quan)的(de)(de)標(biao)配(pei)產品。TH2883-10具有(you)10kV的(de)(de)脈(mo)沖(chong)輸出(chu)電(dian)(dian)壓，可(ke)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)更高絕緣耐(nai)壓的(de)(de)匝間(jian)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)。若配(pei)備TH28831匝間(jian)絕緣多路掃(sao)描儀(yi)可(ke)將上述三(san)款單通道測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)儀(yi)擴展(zhan)為10通道。

TH2883系(xi)列(lie)還(huan)提供了4通道與8通道兩款多路(lu)測試(shi)的(de)一(yi)體機，他們所對應的(de)型號(hao)分別(bie)為TH2883S4-5和TH2883S8-5供用戶靈活選擇(ze)。

TH2883系列產品標(biao)配USBHost、RS232C、USB Device和LAN接口(kou)，既方便您圖形(xing)的(de)快速(su)保存，又方便您進行遠(yuan)程(cheng)控制。

功能特點

A. 線圈性能分析

線(xian)(xian)圈(quan)類(lei)產(chan)品（如變壓(ya)器、電(dian)機(ji)等）由(you)于繞(rao)(rao)線(xian)(xian)材(cai)料(liao)(liao)、磁性(xing)(xing)材(cai)料(liao)(liao)、骨架、加工(gong)工(gong)藝等因(yin)(yin)素的(de)影響(xiang)會產(chan)生線(xian)(xian)圈(quan)層間(jian)(jian)、匝(za)間(jian)(jian)及引腳間(jian)(jian)等絕緣性(xing)(xing)能的(de)降低。TH2883系(xi)列脈沖式線(xian)(xian)圈(quan)測試儀(yi)通過比(bi)較被測線(xian)(xian)圈(quan)的(de)衰(shuai)減振蕩波型與標準波形來判(pan)定該繞(rao)(rao)組(zu)(zu)的(de)電(dian)感、品質因(yin)(yin)素（Q值(zhi)）、繞(rao)(rao)組(zu)(zu)的(de)圈(quan)數差、匝(za)間(jian)(jian)層間(jian)(jian)短路，在有導磁材(cai)料(liao)(liao)的(de)情況(kuang)下還能判(pan)斷(duan)其材(cai)質的(de)差別(bie)，高壓(ya)脈沖下電(dian)暈放電(dian)的(de)發生還可以對繞(rao)(rao)組(zu)(zu)層間(jian)(jian)或多(duo)個(ge)繞(rao)(rao)組(zu)(zu)間(jian)(jian)絕緣不良(liang)進(jin)行判(pan)定。

圖A-1中的(de)(de)自(zi)激振蕩衰(shuai)減(jian)波形直(zhi)接(jie)和(he)線圈的(de)(de)電感(gan)值 L 及品(pin)質因素 Q 值有著密切的(de)(de)關系(xi)，而(er) L 值及 Q 值又和(he)線圈的(de)(de)圈數、制造工(gong)藝、是否空心線圈并(bing)且還(huan)與導磁材(cai)料特性又有著不可(ke)分割(ge)的(de)(de)關系(xi)。由于施加(jia)電壓(ya)是高壓(ya)脈(mo)沖電壓(ya)，因此，線圈短路(lu)、匝(za)間局部短路(lu)或(huo)由于絕緣損傷(shang)引起的(de)(de)層間或(huo)匝(za)間電暈放電現(xian)(xian)象(xiang)自(zi)然很容易被發現(xian)(xian)。

B. 四種(zhong)波形判斷方法

a) 面積(ji)比較方法

如圖 B-1 所示，在(zai)任意的(de)(de) A～B 區間(jian)內對(dui)被測(ce)線(xian)圈測(ce)試(shi)波(bo)(bo)形面積進行(xing)(積分(fen))計算，并與(yu)標準波(bo)(bo)形在(zai)此(ci)區間(jian)內的(de)(de)面積進行(xing)比(bi)較，用這兩個波(bo)(bo)形面積的(de)(de)差異值(zhi)與(yu)標準波(bo)(bo)形在(zai)此(ci)區間(jian)的(de)(de)面積的(de)(de)百(bai)分(fen)比(bi)作(zuo)為判定(ding)依據，判定(ding)基準用百(bai)分(fen)比(bi)來設(she)定(ding)。

波形(xing)面積近似的與(yu)能(neng)量損失成(cheng)正(zheng)比，所以可(ke)以使(shi)用(yong)面積比較方法來判斷線圈中的能(neng)量損耗(hao)，有效的檢測線圈層間和匝間短路(lu)。

b) 面積(ji)差比較方法

如圖 B-2 所示，在任(ren)意 A～B 區間內(nei)對被測線圈(quan)測試(shi)波(bo)(bo)形和標(biao)(biao)準(zhun)波(bo)(bo)形的(de) Y 軸方(fang)向的(de)差異值進行(xing)計(ji)(ji)算(積(ji)分計(ji)(ji)算的(de)結果為 A～B 區間內(nei)的(de)陰影部(bu)分)和標(biao)(biao)準(zhun)波(bo)(bo)形在此區間的(de)面積(ji)比較，基準(zhun)用百分比來設定(ding)。

面積差(cha)比較方法主(zhu)要表現(xian)了電(dian)感量(liang) L 的(de)差(cha)異和能量(liang)的(de)損耗(hao)，這(zhe)個比較方法可以有效的(de)檢測標準線圈(quan)和被測線圈(quan)的(de)電(dian)感量(liang) L 的(de)差(cha)異。

c) 電(dian)暈比較方(fang)法(fa)

如(ru)圖 B-3 所示，與(yu)波形的差(cha)異(yi)無關，在任意(yi)的 A～B 區間內，僅在被(bei)測(ce)線圈測(ce)試波形包含的電暈放(fang)電尖峰(feng)中檢出高頻(pin)成分進(jin)行無損提取，并將計算(suan)結果(guo)與(yu)設定(ding)(ding)值進(jin)行比較， 判(pan)定(ding)(ding)電暈放(fang)電量是(shi)否合(he)格，設定(ding)(ding)值是(shi)一個整數。

此(ci)方法對線圈內部絕緣(yuan)性能(neng)反應。對于線圈絕緣(yuan)性能(neng)要(yao)求(qiu)高的場合需要(yao)使(shi)用(yong)電暈(yun)比較方法，因為絕緣(yuan)性能(neng)的好壞直接影(ying)響線圈產(chan)品的使(shi)用(yong)壽命到長短。

d) 相位差比較方(fang)法(fa)

如(ru)圖 B-4 所示，用戶可以一(yi)個(ge)需(xu)要(yao)作比較的(de)過零點(dian)(dian)，儀(yi)器判(pan)斷被測線圈測試波形和標(biao)準波形在這個(ge)過零點(dian)(dian)的(de)偏(pian)移量，然(ran)后(hou)和標(biao)準波形的(de)振蕩(dang)周期作比較，并用這兩個(ge)量的(de)百分比作為判(pan)斷依(yi)據(ju)，基準用百分比來設定。如(ru)圖中，A～B 間(jian)是偏(pian)移量，C～D 間(jian)是標(biao)準波形振蕩(dang)周期，設定的(de)是比較波形的(de)第(di)3個(ge)過零點(dian)(dian)。

此方法主要用來反映電感量差異。線圈不良可以用相位(wei)差來判別。

面積比(bi)較主要是(shi)根據能量(liang)損失，能夠(gou)很有(you)效地進行層間短路(lu)和圈(quan)對圈(quan)的檢測，而電(dian)暈則是(shi)以(yi)發現(xian)線(xian)圈(quan)內(nei)部絕緣缺陷為目的的檢測方法。另(ling)外需要考慮電(dian)感(gan)值(zhi)問(wen)題(ti)的話，可以(yi)增加面積差來比(bi)較判(pan)定。

磁芯材料(liao)差異(yi)可以用面積、面積差和電暈方(fang)法來(lai)判別。對馬達、螺線(xian)管(guan)、繼電器(qi)等大部分線(xian)圈(quan)，采(cai)用面積比較和電暈測試方(fang)法。

C. 破壞測試(shi)功(gong)能

通過對線圈施加(jia)上升步進電壓，結合電暈放電的(de)(de)情況(kuang)來判斷被測件的(de)(de)極限(xian)耐壓值。

D. 多通道測試

TH2883系列提(ti)供4通道(dao)(dao)與8通道(dao)(dao)兩款多路(lu)測試(shi)的(de)(de)一體機，他們所對應的(de)(de)型號分別為(wei)TH2883S4-5和TH2883S8-5。此外(wai)還提(ti)供一款將單通道(dao)(dao)測試(shi)儀擴(kuo)(kuo)展為(wei)10通道(dao)(dao)的(de)(de)掃描擴(kuo)(kuo)展器供用戶靈活選擇。多路(lu)測試(shi)儀的(de)(de)應用可以提(ti)高對三相(xiang)四(si)線(xian)或三項三線(xian)繞(rao)(rao)組(zu)的(de)(de)測試(shi)效率，一次測試(shi)多個繞(rao)(rao)組(zu)，解決多次切換繞(rao)(rao)組(zu)的(de)(de)煩惱(nao)。