TH2883系(xi)列產品(pin)是(shi)同(tong)惠研發(fa)的脈(mo)沖式線(xian)圈(quan)測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)產品(pin)線(xian)。可完整提供低(di)壓(ya)30V到高壓(ya)10kV，單(dan)通道(dao)到多通道(dao)（8通道(dao)）系(xi)列線(xian)圈(quan)測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)解決方案。

該產品(pin)線采(cai)用(yong)當前主流32bit CPU和高密度(du)(du) SMD貼(tie)裝(zhuang)工藝，65k色(se)的7寸寬屏TFT顯(xian)示(shi)器。操作功能簡潔易用(yong)，顯(xian)示(shi)界面清新亮麗(li)。30V，10kV涵蓋寬范圍脈沖電壓，低至1uH電感(gan)量的線圈(quan)測(ce)試(shi)，高達200Msps的采(cai)樣(yang)率，6k Bytes的存儲深度(du)(du)，讓您的測(ce)試(shi)“無微不(bu)至"。

TH2883系列根據輸出電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)不同分(fen)為TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三(san)種(zhong)單(dan)通道輸出的型號(hao)。TH2883-1是(shi)低(di)電(dian)(dian)(dian)感(gan)脈(mo)沖(chong)式線圈(quan)測(ce)(ce)試儀(yi)，具(ju)有(you)30V、1200V的脈(mo)沖(chong)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)，可(ke)測(ce)(ce)試低(di)至1uH電(dian)(dian)(dian)感(gan)量(liang)的線圈(quan)，是(shi)開關電(dian)(dian)(dian)源(yuan)等所用電(dian)(dian)(dian)感(gan)線圈(quan)的理想測(ce)(ce)試產品。TH2883-5具(ju)有(you)100V-5000V的寬范圍脈(mo)沖(chong)電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)，是(shi)測(ce)(ce)試各(ge)種(zhong)線圈(quan)的標配產品。TH2883-10具(ju)有(you)10kV的脈(mo)沖(chong)輸出電(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)，可(ke)測(ce)(ce)試更高絕(jue)緣耐壓(ya)(ya)的匝間測(ce)(ce)試。若(ruo)配備TH28831匝間絕(jue)緣多路掃描儀(yi)可(ke)將(jiang)上述三(san)款單(dan)通道測(ce)(ce)試儀(yi)擴(kuo)展為10通道。

TH2883系列還提供了4通道與8通道兩款多路測試的一體機，他們(men)所對應(ying)的型(xing)號分別為(wei)TH2883S4-5和(he)TH2883S8-5供用戶靈(ling)活選擇。

TH2883系列產品(pin)標配USBHost、RS232C、USB Device和LAN接口，既方便(bian)您圖形的快速(su)保存，又方便(bian)您進行遠(yuan)程控制。

功能特點

A. 線圈性能(neng)分析(xi)

線圈(quan)(quan)類產品（如(ru)變壓(ya)器(qi)、電機等）由于繞(rao)線材料(liao)、磁性材料(liao)、骨架(jia)、加工工藝等因素的(de)影響會產生線圈(quan)(quan)層間(jian)、匝(za)間(jian)及引腳間(jian)等絕緣(yuan)性能的(de)降低。TH2883系列脈沖(chong)式線圈(quan)(quan)測試儀(yi)通(tong)過(guo)比較被測線圈(quan)(quan)的(de)衰減(jian)振蕩波型與標準波形(xing)來(lai)判(pan)定(ding)該繞(rao)組(zu)(zu)的(de)電感、品質(zhi)因素（Q值）、繞(rao)組(zu)(zu)的(de)圈(quan)(quan)數差、匝(za)間(jian)層間(jian)短(duan)路，在有(you)導磁材料(liao)的(de)情(qing)況(kuang)下還(huan)(huan)能判(pan)斷(duan)其材質(zhi)的(de)差別，高壓(ya)脈沖(chong)下電暈放電的(de)發生還(huan)(huan)可以對繞(rao)組(zu)(zu)層間(jian)或多個繞(rao)組(zu)(zu)間(jian)絕緣(yuan)不良進行判(pan)定(ding)。

圖A-1中(zhong)的(de)自(zi)激振蕩衰(shuai)減波形直接和線(xian)(xian)圈的(de)電(dian)感值(zhi) L 及(ji)品質因素(su) Q 值(zhi)有著(zhu)密切的(de)關系，而 L 值(zhi)及(ji) Q 值(zhi)又(you)和線(xian)(xian)圈的(de)圈數、制造工藝、是否空心線(xian)(xian)圈并(bing)且還與(yu)導磁材(cai)料特性又(you)有著(zhu)不(bu)可分割的(de)關系。由(you)于施加(jia)電(dian)壓是高壓脈沖(chong)電(dian)壓，因此(ci)，線(xian)(xian)圈短(duan)路、匝間(jian)局(ju)部短(duan)路或由(you)于絕緣損傷引起的(de)層(ceng)間(jian)或匝間(jian)電(dian)暈放電(dian)現象自(zi)然很容易被發(fa)現。

B. 四種(zhong)波形(xing)判(pan)斷方法

a) 面積比較方法

如圖 B-1 所示，在任意的(de) A～B 區間(jian)內(nei)對被測線圈測試波(bo)形面積進行(積分(fen))計算，并(bing)與(yu)標準波(bo)形在此(ci)區間(jian)內(nei)的(de)面積進行比(bi)較，用這兩個波(bo)形面積的(de)差異值與(yu)標準波(bo)形在此(ci)區間(jian)的(de)面積的(de)百(bai)分(fen)比(bi)作(zuo)為判(pan)定依(yi)據，判(pan)定基準用百(bai)分(fen)比(bi)來設定。

波形面積(ji)近似(si)的(de)(de)與能量(liang)損失成正(zheng)比，所以(yi)可以(yi)使用面積(ji)比較方法來判斷線(xian)圈(quan)中的(de)(de)能量(liang)損耗，有效的(de)(de)檢測線(xian)圈(quan)層間(jian)和匝間(jian)短路。

b) 面積(ji)差比較(jiao)方法

如(ru)圖 B-2 所示，在(zai)任意 A～B 區(qu)間內對被測(ce)線圈測(ce)試波形和標準波形的(de) Y 軸方向的(de)差異值進(jin)行計(ji)算(suan)(suan)(積(ji)分計(ji)算(suan)(suan)的(de)結果為 A～B 區(qu)間內的(de)陰影部分)和標準波形在(zai)此區(qu)間的(de)面積(ji)比(bi)較，基準用百(bai)分比(bi)來設定(ding)。

面積差比(bi)(bi)較(jiao)方(fang)法主(zhu)要表現了電感(gan)量(liang) L 的(de)(de)(de)差異和能量(liang)的(de)(de)(de)損(sun)耗，這個比(bi)(bi)較(jiao)方(fang)法可以有效(xiao)的(de)(de)(de)檢測標準線(xian)圈和被測線(xian)圈的(de)(de)(de)電感(gan)量(liang) L 的(de)(de)(de)差異。

c) 電(dian)暈比較方法

如(ru)圖 B-3 所示，與(yu)(yu)波(bo)(bo)形(xing)的(de)差(cha)異無(wu)關，在(zai)任意的(de) A～B 區間內(nei)，僅在(zai)被測線圈測試波(bo)(bo)形(xing)包含的(de)電(dian)(dian)暈放電(dian)(dian)尖峰中檢出高頻成分進(jin)行無(wu)損提取，并將(jiang)計算結果與(yu)(yu)設定值進(jin)行比較， 判定電(dian)(dian)暈放電(dian)(dian)量是否合格(ge)，設定值是一個整數。

此方法(fa)(fa)對線圈(quan)內(nei)部(bu)絕(jue)(jue)緣(yuan)性能反應。對于線圈(quan)絕(jue)(jue)緣(yuan)性能要求(qiu)高的場合需要使用電暈(yun)比較方法(fa)(fa)，因為(wei)絕(jue)(jue)緣(yuan)性能的好(hao)壞直接影響(xiang)線圈(quan)產(chan)品的使用壽命到長(chang)短。

d) 相位差(cha)比較方法

如(ru)圖(tu) B-4 所示，用戶可以一個(ge)(ge)需要作(zuo)比較的(de)(de)過零點(dian)，儀器判(pan)(pan)斷被(bei)測(ce)線圈測(ce)試(shi)波(bo)形(xing)(xing)和(he)標準(zhun)波(bo)形(xing)(xing)在(zai)這個(ge)(ge)過零點(dian)的(de)(de)偏移量，然后和(he)標準(zhun)波(bo)形(xing)(xing)的(de)(de)振蕩(dang)(dang)周(zhou)期(qi)作(zuo)比較，并用這兩個(ge)(ge)量的(de)(de)百分(fen)比作(zuo)為判(pan)(pan)斷依據，基準(zhun)用百分(fen)比來設定。如(ru)圖(tu)中，A～B 間是偏移量，C～D 間是標準(zhun)波(bo)形(xing)(xing)振蕩(dang)(dang)周(zhou)期(qi)，設定的(de)(de)是比較波(bo)形(xing)(xing)的(de)(de)第3個(ge)(ge)過零點(dian)。

此方法主要用來(lai)反映電感量差異。線(xian)圈不良可(ke)以(yi)用相位差來(lai)判別。

面(mian)積(ji)比較(jiao)主要是根據能量損失，能夠很有(you)效地進行層間(jian)短路和圈(quan)對圈(quan)的(de)檢測，而(er)電暈則(ze)是以發現線(xian)圈(quan)內部絕緣缺陷(xian)為目(mu)的(de)的(de)檢測方法。另外需要考慮電感值問(wen)題的(de)話，可以增加面(mian)積(ji)差來比較(jiao)判定。

磁芯材料差(cha)異(yi)可以用面(mian)積(ji)、面(mian)積(ji)差(cha)和電(dian)暈方(fang)法(fa)來判別。對馬(ma)達、螺線管、繼電(dian)器(qi)等大部分線圈，采用面(mian)積(ji)比較和電(dian)暈測試方(fang)法(fa)。

C. 破壞測試功能(neng)

通過(guo)對(dui)線(xian)圈施加上升步進電(dian)(dian)壓，結(jie)合電(dian)(dian)暈(yun)放(fang)電(dian)(dian)的情況來判斷被測件的極(ji)限耐壓值。

D. 多通道測試

TH2883系列提供(gong)4通道與8通道兩(liang)款多(duo)路測試(shi)(shi)的(de)一體機，他們所對應的(de)型號(hao)分別為TH2883S4-5和TH2883S8-5。此外還(huan)提供(gong)一款將單(dan)通道測試(shi)(shi)儀擴展為10通道的(de)掃描(miao)擴展器供(gong)用(yong)戶靈(ling)活選擇。多(duo)路測試(shi)(shi)儀的(de)應用(yong)可以提高對三相四(si)線或三項三線繞組的(de)測試(shi)(shi)效(xiao)率，一次測試(shi)(shi)多(duo)個繞組，解決多(duo)次切換繞組的(de)煩惱。