TH2883系列產(chan)品(pin)是同惠研發的脈沖式線圈測(ce)試(shi)儀產(chan)品(pin)線。可完(wan)整提供低壓30V到(dao)高(gao)壓10kV，單通道(dao)到(dao)多通道(dao)（8通道(dao)）系列線圈測(ce)試(shi)儀解(jie)決方案。

該產品線(xian)采(cai)用當前主流32bit CPU和高密(mi)度(du) SMD貼裝(zhuang)工藝，65k色(se)的(de)(de)7寸寬(kuan)屏TFT顯示(shi)器(qi)。操作(zuo)功能簡潔(jie)易用，顯示(shi)界(jie)面清新亮麗。30V，10kV涵(han)蓋寬(kuan)范圍脈沖電(dian)壓，低(di)至(zhi)1uH電(dian)感量的(de)(de)線(xian)圈測(ce)(ce)試(shi)，高達(da)200Msps的(de)(de)采(cai)樣率，6k Bytes的(de)(de)存儲深度(du)，讓您(nin)的(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)“無微不(bu)至(zhi)"。

TH2883系列根據輸(shu)出(chu)(chu)(chu)電(dian)(dian)壓不(bu)同分(fen)為(wei)TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三(san)種(zhong)單通(tong)道輸(shu)出(chu)(chu)(chu)的(de)型號。TH2883-1是低(di)電(dian)(dian)感(gan)(gan)脈(mo)沖(chong)式(shi)線圈(quan)(quan)測(ce)試(shi)儀(yi)，具有(you)30V、1200V的(de)脈(mo)沖(chong)電(dian)(dian)壓，可測(ce)試(shi)低(di)至(zhi)1uH電(dian)(dian)感(gan)(gan)量的(de)線圈(quan)(quan)，是開關電(dian)(dian)源等所用(yong)電(dian)(dian)感(gan)(gan)線圈(quan)(quan)的(de)理(li)想測(ce)試(shi)產品。TH2883-5具有(you)100V-5000V的(de)寬范圍脈(mo)沖(chong)電(dian)(dian)壓，是測(ce)試(shi)各種(zhong)線圈(quan)(quan)的(de)標配產品。TH2883-10具有(you)10kV的(de)脈(mo)沖(chong)輸(shu)出(chu)(chu)(chu)電(dian)(dian)壓，可測(ce)試(shi)更(geng)高絕(jue)緣耐壓的(de)匝間測(ce)試(shi)。若配備TH28831匝間絕(jue)緣多路掃描儀(yi)可將上(shang)述三(san)款單通(tong)道測(ce)試(shi)儀(yi)擴(kuo)展為(wei)10通(tong)道。

TH2883系列還提供了4通道與8通道兩款多路測試的(de)一體(ti)機(ji)，他們(men)所對應的(de)型號分別為TH2883S4-5和(he)TH2883S8-5供用戶靈活選擇。

TH2883系列(lie)產品標配USBHost、RS232C、USB Device和LAN接口，既方便您(nin)圖(tu)形的快速保存，又(you)方便您(nin)進行遠程控制。

功能特點

A. 線圈性(xing)能分析

線(xian)圈類產品（如變壓器、電機等）由于繞線(xian)材(cai)料(liao)、磁性(xing)材(cai)料(liao)、骨架、加工工藝等因(yin)(yin)素(su)的(de)影響會產生線(xian)圈層間(jian)(jian)、匝(za)間(jian)(jian)及引腳間(jian)(jian)等絕(jue)緣性(xing)能的(de)降(jiang)低(di)。TH2883系列脈沖(chong)式線(xian)圈測試儀(yi)通過比較被測線(xian)圈的(de)衰減振蕩(dang)波型與標準波形(xing)來判(pan)定(ding)該(gai)繞組的(de)電感、品質因(yin)(yin)素(su)（Q值）、繞組的(de)圈數差(cha)、匝(za)間(jian)(jian)層間(jian)(jian)短路，在(zai)有導磁材(cai)料(liao)的(de)情(qing)況下還能判(pan)斷其材(cai)質的(de)差(cha)別，高壓脈沖(chong)下電暈放電的(de)發生還可以(yi)對繞組層間(jian)(jian)或(huo)多個繞組間(jian)(jian)絕(jue)緣不良(liang)進行判(pan)定(ding)。

圖A-1中的(de)自激振蕩衰減波(bo)形(xing)直接和(he)線(xian)圈(quan)的(de)電(dian)(dian)感(gan)值 L 及品質因素 Q 值有著密(mi)切的(de)關(guan)系(xi)，而 L 值及 Q 值又和(he)線(xian)圈(quan)的(de)圈(quan)數、制造工藝、是否(fou)空心線(xian)圈(quan)并且還與導磁材料特性又有著不可(ke)分(fen)割的(de)關(guan)系(xi)。由于施加電(dian)(dian)壓是高壓脈沖電(dian)(dian)壓，因此(ci)，線(xian)圈(quan)短路(lu)、匝間局(ju)部短路(lu)或(huo)由于絕緣損傷引(yin)起的(de)層間或(huo)匝間電(dian)(dian)暈放電(dian)(dian)現象自然很容易(yi)被發現。

B. 四種波形(xing)判斷方法

a) 面積比(bi)較(jiao)方(fang)法

如(ru)圖 B-1 所示(shi)，在任意(yi)的(de)(de) A～B 區間(jian)內(nei)對被測線(xian)圈(quan)測試波(bo)形面(mian)積進(jin)行(xing)(積分)計(ji)算，并與(yu)標準(zhun)(zhun)波(bo)形在此區間(jian)內(nei)的(de)(de)面(mian)積進(jin)行(xing)比較(jiao)，用(yong)(yong)這兩個波(bo)形面(mian)積的(de)(de)差異值與(yu)標準(zhun)(zhun)波(bo)形在此區間(jian)的(de)(de)面(mian)積的(de)(de)百分比作為(wei)判(pan)定依據，判(pan)定基準(zhun)(zhun)用(yong)(yong)百分比來設定。

波形(xing)面積近似的(de)與能(neng)量(liang)損失成正(zheng)比，所以可(ke)以使(shi)用面積比較方法來判斷線圈中的(de)能(neng)量(liang)損耗，有(you)效的(de)檢測線圈層(ceng)間(jian)和匝(za)間(jian)短路。

b) 面積(ji)差比較(jiao)方(fang)法

如圖 B-2 所示，在任意 A～B 區間內對被(bei)測(ce)線圈測(ce)試波形(xing)(xing)和(he)標(biao)準(zhun)波形(xing)(xing)的(de)(de) Y 軸方(fang)向的(de)(de)差(cha)異值進行計(ji)算(積分(fen)(fen)計(ji)算的(de)(de)結果為 A～B 區間內的(de)(de)陰(yin)影(ying)部分(fen)(fen))和(he)標(biao)準(zhun)波形(xing)(xing)在此(ci)區間的(de)(de)面積比較，基準(zhun)用百分(fen)(fen)比來設定。

面積差(cha)(cha)比(bi)較方(fang)法主(zhu)要表現(xian)了電感量 L 的(de)(de)差(cha)(cha)異和能(neng)量的(de)(de)損耗，這個比(bi)較方(fang)法可(ke)以有效的(de)(de)檢測標(biao)準(zhun)線圈(quan)和被測線圈(quan)的(de)(de)電感量 L 的(de)(de)差(cha)(cha)異。

c) 電暈比(bi)較方法

如圖 B-3 所示(shi)，與波形的(de)差異無關，在任(ren)意(yi)的(de) A～B 區間(jian)內(nei)，僅在被測(ce)(ce)線(xian)圈測(ce)(ce)試波形包含(han)的(de)電暈放電尖峰中檢(jian)出高頻成分進行(xing)無損(sun)提(ti)取，并將計算結(jie)果(guo)與設定(ding)值進行(xing)比較， 判定(ding)電暈放電量(liang)是(shi)否合(he)格，設定(ding)值是(shi)一個整(zheng)數。

此方法對(dui)線(xian)圈(quan)(quan)內部(bu)絕(jue)緣(yuan)性能反應(ying)。對(dui)于(yu)線(xian)圈(quan)(quan)絕(jue)緣(yuan)性能要求高的(de)場合需要使用電暈比較方法，因為(wei)絕(jue)緣(yuan)性能的(de)好壞直接影響線(xian)圈(quan)(quan)產品的(de)使用壽命到長短。

d) 相(xiang)位差比較(jiao)方法

如(ru)圖 B-4 所示，用戶(hu)可(ke)以一個(ge)(ge)需(xu)要作比(bi)較(jiao)(jiao)的(de)過(guo)零(ling)點(dian)，儀器判斷(duan)被(bei)測線圈測試波(bo)(bo)形和標(biao)準波(bo)(bo)形在(zai)這個(ge)(ge)過(guo)零(ling)點(dian)的(de)偏移量，然后和標(biao)準波(bo)(bo)形的(de)振蕩周(zhou)期(qi)作比(bi)較(jiao)(jiao)，并用這兩個(ge)(ge)量的(de)百分(fen)比(bi)作為判斷(duan)依據，基準用百分(fen)比(bi)來設定。如(ru)圖中(zhong)，A～B 間是(shi)偏移量，C～D 間是(shi)標(biao)準波(bo)(bo)形振蕩周(zhou)期(qi)，設定的(de)是(shi)比(bi)較(jiao)(jiao)波(bo)(bo)形的(de)第(di)3個(ge)(ge)過(guo)零(ling)點(dian)。

此方法主要用來(lai)反映電(dian)感量差異。線圈不良可(ke)以用相(xiang)位差來(lai)判別。

面積比較(jiao)主要是根據能量(liang)損失，能夠很有效地進行層間短路(lu)和圈(quan)對圈(quan)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)，而電暈則是以發現(xian)線(xian)圈(quan)內部絕(jue)緣缺(que)陷為目的(de)(de)(de)的(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)方法。另外需要考慮電感值問題的(de)(de)(de)話，可以增加面積差來比較(jiao)判定。

磁芯材料差(cha)異可(ke)以用面(mian)(mian)積(ji)、面(mian)(mian)積(ji)差(cha)和(he)電暈方(fang)法來判(pan)別(bie)。對馬(ma)達(da)、螺線(xian)管(guan)、繼電器等大部分線(xian)圈，采(cai)用面(mian)(mian)積(ji)比較和(he)電暈測試(shi)方(fang)法。

C. 破壞測(ce)試功能

通過(guo)對線圈(quan)施加上升步進電壓，結合電暈放電的(de)情況來判斷被測件的(de)極限耐壓值。

D. 多通道測(ce)試

TH2883系列提供4通(tong)道與8通(tong)道兩(liang)款多(duo)路測(ce)試的(de)一體(ti)機，他們所對(dui)(dui)應的(de)型號(hao)分別為TH2883S4-5和TH2883S8-5。此外還提供一款將(jiang)單通(tong)道測(ce)試儀(yi)擴(kuo)(kuo)展為10通(tong)道的(de)掃描擴(kuo)(kuo)展器供用戶靈活選擇。多(duo)路測(ce)試儀(yi)的(de)應用可(ke)以提高對(dui)(dui)三(san)相四線(xian)或三(san)項三(san)線(xian)繞組(zu)的(de)測(ce)試效(xiao)率，一次測(ce)試多(duo)個繞組(zu)，解決多(duo)次切換繞組(zu)的(de)煩惱。