精密阻抗分析儀簡介

  TH2851系(xi)列阻抗(kang)分析儀是常州(zhou)同惠電子采用(yong)當前的自動平衡電橋(qiao)原理研制(zhi)成功的新一代阻抗(kang)測試(shi)儀器，為國產阻抗(kang)測試(shi)儀器的高度。

  TH2851系列阻(zu)抗分析儀(yi)了傳統國產儀(yi)器復雜繁瑣的操作界(jie)面，基于Windows10操作系統，實現了全電腦(nao)化操作界(jie)面，讓測試更(geng)智能(neng)、更(geng)簡便。

  TH2851系列阻抗分析(xi)儀(yi)也超越了(le)(le)國外同(tong)類(lei)儀(yi)器120MHz的(de)頻率(lv)瓶(ping)頸；解(jie)決了(le)(le)國外同(tong)類(lei)儀(yi)器只能分析(xi)、無法單(dan)獨(du)測(ce)(ce)試的(de)缺陷；中(zhong)英文操作(zuo)界(jie)面也解(jie)決了(le)(le)國外儀(yi)器僅有英文界(jie)面的(de)尷尬；采用單(dan)測(ce)(ce)和分析(xi)兩種界(jie)面，讓測(ce)(ce)試更(geng)簡單(dan)。

   精密阻抗分析儀得益于的自動平衡電橋技術，在10Hz-130MHz的頻率范圍可以保證0.08%的基本精度。

  快(kuai)達5ms的(de)(de)測(ce)試(shi)速度、及高(gao)達1GΩ的(de)(de)阻(zu)抗測(ce)試(shi)范圍可(ke)以滿(man)足元(yuan)件與材料(liao)的(de)(de)測(ce)量要求，特別有(you)利(li)于低(di)損(sun)耗(D)電容器和高(gao)品質(zhi)因數(Q)電感器的(de)(de)測(ce)量。四端(duan)對的(de)(de)端(duan)口配(pei)置方(fang)式可(ke)有(you)效消除(chu)測(ce)試(shi)線電磁(ci)耦合的(de)(de)影響(xiang)，將(jiang)低(di)阻(zu)抗測(ce)試(shi)能力的(de)(de)下限(xian)比常規五(wu)端(duan)配(pei)置的(de)(de)儀(yi)器向下擴展了十倍(bei)。

A.  高精(jing)度

自動(dong)平衡電(dian)橋技術的(de)應用(yong)，得(de)以在10Hz-130MHz頻率、1mΩ-100M的(de)阻(zu)抗范圍內都能(neng)達(da)到理想(xiang)的(de)測量精(jing)度，其中精(jing)度達(da)0.08%，遠遠高于射頻反射測量法的(de)阻(zu)抗分析(xi)儀、網絡(luo)分析(xi)儀的(de)精(jing)度。

B.  高穩定(ding)性(xing)和(he)高一致性(xing)

下圖是在速(su)度5、測(ce)試頻率1MHz，測(ce)量100Ω電阻的(de)曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

C.  高速度

D.  10.1寸(cun)大屏，四種測量參數，讓細節一覽無(wu)遺

10.1寸觸(chu)摸屏(ping)、1280*800分辨率，Windows10系統、中(zhong)英文操(cao)(cao)作界面，支持鍵盤、鼠標、LAN、VGA/HDMI接口，帶來的(de)是無以倫(lun)比(bi)的(de)操(cao)(cao)作便捷性。

大(da)屏(ping)幕(mu)帶(dai)來(lai)更多(duo)的好處是(shi)，可(ke)以把(ba)所(suo)有測(ce)(ce)試參(can)(can)數及(ji)分選(xuan)參(can)(can)數、分選(xuan)結(jie)果、功能選(xuan)擇等參(can)(can)數放置在同(tong)一屏(ping)幕(mu)，而且(qie)看起來(lai)絕(jue)不擁擠(ji)和雜(za)亂，同(tong)時可(ke)以顯示四種(zhong)測(ce)(ce)量參(can)(can)數，四種(zhong)測(ce)(ce)量參(can)(can)數任意可(ke)調。屏(ping)幕(mu)左邊的按鈕可(ke)以快(kuai)捷選(xuan)擇8套測(ce)(ce)試參(can)(can)數

  E.  增強(qiang)的(de)列表掃描功能(neng)

可以最多設置1601點的列表掃描，每個點可以單獨設置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

F.  強大(da)的分(fen)析圖形界面

最多通(tong)道可以最多顯示(shi)4條曲線。通(tong)道和(he)曲線各有十(shi)四(si)種分屏顯示(shi)方(fang)法

G.  等效電路分(fen)析(xi)測試

現實生活中(zhong)不(bu)同類型的(de)器件(jian)可(ke)以被等(deng)效成簡單的(de)三(san)參數四種(zhong)模型、四參數三(san)種(zhong)模型的(de)阻抗器件(jian)，等(deng)效電路分析測試(shi)功能提供了7種(zhong)基本的(de)電路模型用(yong)于(yu)等(deng)效這些器件(jian)。

可以(yi)通過(guo)仿真的等效(xiao)電路(lu)參(can)數值(zhi)的阻抗擬(ni)合曲(qu)線與實(shi)際(ji)測(ce)量的阻抗曲(qu)線進(jin)行對比，還可以(yi)通過(guo)您輸入的參(can)數按照(zhao)所選(xuan)擇(ze)的模(mo)型進(jin)行擬(ni)合。

等效(xiao)的電(dian)路模(mo)型可以直接輸出成TXT文檔(dang)方便用戶保存使用

應用

■ 無源元件：

電(dian)容(rong)器、電(dian)感(gan)器、磁芯、電(dian)阻器、壓電(dian)器件(jian)、變壓器、芯片組(zu)件(jian)和網絡元件(jian)等的阻抗參(can)數評(ping)估和性能分析。

■ 半導體元件：

LED驅動集(ji)成電(dian)路寄(ji)生參數測試(shi)分析；變(bian)容二極(ji)管的C-VDC特性；晶體管或(huo)集(ji)成電(dian)路的寄(ji)生參數分析

■ 其它元件：

印制電(dian)路板、繼電(dian)器(qi)、開(kai)關、電(dian)纜、電(dian)池等阻抗評估

■ 介質材料：

塑料、陶瓷和(he)其它材料的介(jie)電(dian)常(chang)數和(he)損耗(hao)角評估

■ 磁性材料：

鐵氧體、非(fei)晶體和其它磁(ci)性材料的導磁(ci)率和損耗角評估

■ 半導體材料：

半(ban)導體材料的介電常數、導電率和C-V特(te)性

■ 液晶單元：

介電常數、彈(dan)性(xing)常數等C-V特(te)性(xing)

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