益和MICROTEST 7620/7621 耐(nai)壓測試(shi)儀(yi)(yi) 7620 耐(nai)壓測試(shi)儀(yi)(yi)：7620 為8 Channels 耐(nai)壓測試(shi)儀(yi)(yi)，可(ke)應用在變(bian)壓器(qi)、馬(ma)達、電(dian)容、電(dian)感、線材、濾波器(qi)等(deng)範(fan)圍。 7621 耐(nai)壓測試(shi)儀(yi)(yi)：7621 為8 Channels 耐(nai)壓測試(shi)儀(yi)(yi)，可(ke)應用在變(bian)壓器(qi)、馬(ma)達、電(dian)容、電(dian)感、線材、濾波器(qi)等(deng)範(fan)圍。
益和MICROTEST 7630 耐(nai)壓測(ce)試(shi)儀 7630為(wei)2通(tong)道(dao)耐(nai)壓測(ce)試(shi)儀，AC 高(gao)壓5000V，DC 高(gao)壓6000V，絕緣阻抗1.2G?。內部(bu)記憶(yi)體可(ke)存30組測(ce)試(shi)檔(dang)案(an)，每組檔(dang)案(an)支援(yuan)16組測(ce)試(shi)步驟。USB Host 可(ke)儲存檔(dang)案(an)及更新韌體。可(ke)連接USB Device/RS-232傳(chuan)送指令至電(dian)腦。另外(wai)待測(ce)物(wu)測(ce)試(shi)不良(liang)時，可(ke)加裝(zhuang)不良(liang)的通(tong)道(dao)警示燈(deng)，透過(guo)Remote Port輸(shu)出信號判斷。
益和MICROTEST 7631 精密耐壓(ya)測試儀 7631為(wei)8通道耐壓(ya)測試儀，AC 高(gao)壓(ya)5000V，DC 高(gao)壓(ya)6000V，絕緣(yuan)阻抗1.2G?。內部記憶(yi)體可存30組測試檔案，每組檔案支援16組測試步驟，在量(liang)測技術上(shang)使(shi)(shi)用糕端32Bit True-RMS DSP（數(shu)位信號處(chu)理(li)器(qi)），有別於(wu)一般(ban)量(liang)測所使(shi)(shi)用的ADC（類比數(shu)位轉(zhuan)換積(ji)分器(qi)）。
中(zhong)國臺(tai)灣益(yi)和 6375+6220 直流偏流源測試系統(tong)簡介： MICROTEST DC Bias 6210、6220、6240 獨家擁有內(nei)部(bu)溫(wen)(wen)升掃描功能(neng)，透過(guo)(guo)掃描功能(neng)得到線圈內(nei)溫(wen)(wen)度(du)升高的參數(shu)，不(bu)再受限於空間過(guo)(guo)小導致量測數(shu)值非(fei)常困難。溫(wen)(wen)升掃描功能(neng)可以(yi)讓(rang)工程(cheng)師瞭解線圈上加了(le)電(dian)流以(yi)後，溫(wen)(wen)度(du)爬(pa)升的狀況，就能(neng)立即知道元件是否會(hui)因(yin)溫(wen)(wen)度(du)過(guo)(guo)高而燒毀。
中國臺灣益(yi)和 62XX+6632 直流偏流源測(ce)試系統(tong) MICROTEST DC Bias 6210、6220、6240 獨家擁有內部(bu)溫(wen)升(sheng)(sheng)掃(sao)描(miao)功(gong)能，透過掃(sao)描(miao)功(gong)能得到線(xian)(xian)圈(quan)內溫(wen)度(du)升(sheng)(sheng)高的參數，不再(zai)受限於(wu)空間過小導致量測(ce)數值非常困(kun)難(nan)。溫(wen)升(sheng)(sheng)掃(sao)描(miao)功(gong)能可以讓工程師瞭解線(xian)(xian)圈(quan)上加了(le)電流以後，溫(wen)度(du)爬升(sheng)(sheng)的狀況，就能立即知道元件是否會因溫(wen)度(du)過高而燒毀(hui)。
