TH2883系列產品是(shi)同惠研發的脈(mo)沖式線(xian)圈測試儀產品線(xian)。可完整提供低(di)壓30V到高壓10kV，單通(tong)道(dao)到多(duo)通(tong)道(dao)（8通(tong)道(dao)）系列線(xian)圈測試儀解決方案。

該產品線(xian)采用(yong)當前主流32bit CPU和高(gao)(gao)密度 SMD貼裝工藝，65k色的(de)7寸寬屏TFT顯示器。操作功能(neng)簡潔易用(yong)，顯示界面清新亮(liang)麗。30V，10kV涵蓋寬范圍脈沖電(dian)壓，低至(zhi)1uH電(dian)感量的(de)線(xian)圈測(ce)試，高(gao)(gao)達200Msps的(de)采樣率，6k Bytes的(de)存儲(chu)深度，讓您的(de)測(ce)試“無(wu)微不(bu)至(zhi)"。

TH2883系列根據(ju)輸出電(dian)(dian)(dian)壓不同(tong)分為TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三種單通(tong)(tong)道(dao)輸出的型號。TH2883-1是低電(dian)(dian)(dian)感(gan)脈沖(chong)式線圈(quan)測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)，具(ju)有30V、1200V的脈沖(chong)電(dian)(dian)(dian)壓，可測(ce)試(shi)(shi)低至(zhi)1uH電(dian)(dian)(dian)感(gan)量(liang)的線圈(quan)，是開(kai)關電(dian)(dian)(dian)源等(deng)所用電(dian)(dian)(dian)感(gan)線圈(quan)的理想測(ce)試(shi)(shi)產品。TH2883-5具(ju)有100V-5000V的寬范圍脈沖(chong)電(dian)(dian)(dian)壓，是測(ce)試(shi)(shi)各種線圈(quan)的標配產品。TH2883-10具(ju)有10kV的脈沖(chong)輸出電(dian)(dian)(dian)壓，可測(ce)試(shi)(shi)更高絕緣耐(nai)壓的匝間測(ce)試(shi)(shi)。若(ruo)配備(bei)TH28831匝間絕緣多路(lu)掃描儀(yi)可將上述三款單通(tong)(tong)道(dao)測(ce)試(shi)(shi)儀(yi)擴(kuo)展(zhan)為10通(tong)(tong)道(dao)。

TH2883系列還提供(gong)了4通(tong)道與8通(tong)道兩款多路測試的一體機(ji)，他們所對應的型(xing)號分別為TH2883S4-5和TH2883S8-5供(gong)用戶靈活選(xuan)擇(ze)。

TH2883系(xi)列產品標(biao)配USBHost、RS232C、USB Device和LAN接口，既方便您圖形的快速保(bao)存，又方便您進行遠程控制。

功能特點

A. 線圈性能分析(xi)

線圈類產品(pin)（如變(bian)壓器、電(dian)機等(deng)）由于繞(rao)線材(cai)料、磁性材(cai)料、骨(gu)架、加工(gong)工(gong)藝等(deng)因(yin)素的(de)影響會產生線圈層間、匝(za)間及引腳間等(deng)絕緣性能的(de)降低。TH2883系列脈沖(chong)(chong)式線圈測試儀通過比較(jiao)被測線圈的(de)衰減(jian)振蕩波型(xing)與標準波形來判(pan)定該(gai)繞(rao)組(zu)的(de)電(dian)感、品(pin)質因(yin)素（Q值）、繞(rao)組(zu)的(de)圈數差、匝(za)間層間短路，在有(you)導磁材(cai)料的(de)情況下還(huan)能判(pan)斷其(qi)材(cai)質的(de)差別，高壓脈沖(chong)(chong)下電(dian)暈放電(dian)的(de)發(fa)生還(huan)可以對(dui)繞(rao)組(zu)層間或多個繞(rao)組(zu)間絕緣不良(liang)進行判(pan)定。

圖A-1中(zhong)的(de)自(zi)激振蕩衰(shuai)減波形直接(jie)和線(xian)(xian)圈(quan)的(de)電(dian)(dian)感值 L 及品質因素 Q 值有著密切的(de)關系(xi)，而(er) L 值及 Q 值又和線(xian)(xian)圈(quan)的(de)圈(quan)數、制造(zao)工藝、是否(fou)空心線(xian)(xian)圈(quan)并且還與導磁材料特性又有著不(bu)可分割的(de)關系(xi)。由(you)于(yu)施加(jia)電(dian)(dian)壓是高壓脈沖電(dian)(dian)壓，因此，線(xian)(xian)圈(quan)短路、匝間局部短路或由(you)于(yu)絕緣(yuan)損傷引起的(de)層間或匝間電(dian)(dian)暈放電(dian)(dian)現象自(zi)然很容易被發現。

B. 四種波形判斷方法(fa)

a) 面積(ji)比較方(fang)法

如圖 B-1 所示，在(zai)任(ren)意的 A～B 區間(jian)(jian)內對被(bei)測線(xian)圈測試波(bo)形面(mian)(mian)積進行(積分(fen))計算，并(bing)與(yu)標準(zhun)波(bo)形在(zai)此區間(jian)(jian)內的面(mian)(mian)積進行比較，用這兩個波(bo)形面(mian)(mian)積的差(cha)異(yi)值與(yu)標準(zhun)波(bo)形在(zai)此區間(jian)(jian)的面(mian)(mian)積的百分(fen)比作為判定依據，判定基(ji)準(zhun)用百分(fen)比來設(she)定。

波(bo)形面積近似的與(yu)能(neng)量損失成正比，所以可以使用面積比較方法來判(pan)斷線圈(quan)中的能(neng)量損耗，有(you)效的檢測線圈(quan)層間(jian)和匝間(jian)短路。

b) 面(mian)積差比較方法

如圖 B-2 所示，在任意(yi) A～B 區(qu)間(jian)內(nei)對(dui)被測(ce)(ce)線圈測(ce)(ce)試(shi)波(bo)形(xing)和標準波(bo)形(xing)的(de) Y 軸(zhou)方向的(de)差(cha)異值(zhi)進行計算(積(ji)分計算的(de)結果為 A～B 區(qu)間(jian)內(nei)的(de)陰(yin)影部分)和標準波(bo)形(xing)在此區(qu)間(jian)的(de)面積(ji)比較，基準用百(bai)分比來設定(ding)。

面(mian)積差(cha)比較(jiao)方(fang)法(fa)(fa)主要表現了(le)電感量 L 的差(cha)異(yi)和(he)能量的損耗，這個(ge)比較(jiao)方(fang)法(fa)(fa)可以(yi)有效的檢測標準(zhun)線圈和(he)被測線圈的電感量 L 的差(cha)異(yi)。

c) 電暈比較方法

如圖(tu) B-3 所示，與波(bo)形的(de)差異無(wu)關，在任意的(de) A～B 區間內(nei)，僅在被測(ce)(ce)線(xian)圈測(ce)(ce)試波(bo)形包含(han)的(de)電暈放電尖峰中檢(jian)出高頻成分進(jin)(jin)行無(wu)損提取(qu)，并將計算結果與設定值進(jin)(jin)行比(bi)較， 判定電暈放電量是否合格，設定值是一個整數。

此方法對線圈(quan)內部絕(jue)緣性能(neng)反(fan)應。對于線圈(quan)絕(jue)緣性能(neng)要求高(gao)的(de)場合需要使(shi)用(yong)電暈(yun)比(bi)較(jiao)方法，因為絕(jue)緣性能(neng)的(de)好壞直接影響線圈(quan)產品的(de)使(shi)用(yong)壽命(ming)到長短(duan)。

d) 相位(wei)差比較方法

如(ru)圖 B-4 所示，用戶可以一個(ge)(ge)需(xu)要(yao)作(zuo)比(bi)較(jiao)的(de)(de)過(guo)(guo)零(ling)點，儀器(qi)判(pan)斷被(bei)測線圈測試(shi)波(bo)(bo)(bo)形(xing)和標(biao)準波(bo)(bo)(bo)形(xing)在這個(ge)(ge)過(guo)(guo)零(ling)點的(de)(de)偏(pian)移(yi)量，然后和標(biao)準波(bo)(bo)(bo)形(xing)的(de)(de)振蕩周期作(zuo)比(bi)較(jiao)，并用這兩個(ge)(ge)量的(de)(de)百(bai)分(fen)比(bi)作(zuo)為判(pan)斷依據，基準用百(bai)分(fen)比(bi)來(lai)設定。如(ru)圖中，A～B 間(jian)是偏(pian)移(yi)量，C～D 間(jian)是標(biao)準波(bo)(bo)(bo)形(xing)振蕩周期，設定的(de)(de)是比(bi)較(jiao)波(bo)(bo)(bo)形(xing)的(de)(de)第3個(ge)(ge)過(guo)(guo)零(ling)點。

此(ci)方法主(zhu)要用來(lai)反映電感量差(cha)異。線(xian)圈不良可以用相位差(cha)來(lai)判(pan)別。

面積比(bi)較主要是根據能量損失，能夠(gou)很(hen)有效地進行層間短路和圈對圈的檢(jian)測(ce)，而電暈則是以發現線圈內部絕緣缺陷為(wei)目的的檢(jian)測(ce)方(fang)法。另外需(xu)要考慮電感值問題(ti)的話(hua)，可以增加面積差(cha)來比(bi)較判定。

磁芯(xin)材(cai)料差(cha)異(yi)可以用面(mian)積(ji)、面(mian)積(ji)差(cha)和電(dian)暈方法(fa)(fa)來(lai)判(pan)別。對馬達(da)、螺線管、繼(ji)電(dian)器等大(da)部(bu)分線圈，采用面(mian)積(ji)比較和電(dian)暈測試方法(fa)(fa)。

C. 破(po)壞測試功能(neng)

通過對線圈施(shi)加(jia)上(shang)升步進電(dian)壓，結(jie)合電(dian)暈放電(dian)的情(qing)況來判斷被測件的極(ji)限(xian)耐(nai)壓值。

D. 多通道(dao)測(ce)試

TH2883系列提(ti)(ti)供4通道(dao)(dao)與8通道(dao)(dao)兩款多(duo)(duo)路測(ce)試的(de)(de)一體(ti)機，他(ta)們所對應的(de)(de)型號(hao)分(fen)別為TH2883S4-5和(he)TH2883S8-5。此外還提(ti)(ti)供一款將(jiang)單通道(dao)(dao)測(ce)試儀(yi)擴(kuo)展為10通道(dao)(dao)的(de)(de)掃描(miao)擴(kuo)展器供用(yong)戶(hu)靈活選(xuan)擇。多(duo)(duo)路測(ce)試儀(yi)的(de)(de)應用(yong)可以提(ti)(ti)高對三(san)相四線或(huo)三(san)項(xiang)三(san)線繞組(zu)的(de)(de)測(ce)試效率，一次測(ce)試多(duo)(duo)個繞組(zu)，解決多(duo)(duo)次切換(huan)繞組(zu)的(de)(de)煩惱。